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基于C++ TCL PLI联合仿真下的芯片验证方法研究
1
作者
潘闻融
周智
《现代电子技术》
2009年第17期115-117,共3页
提出一套分层次的芯片验证架构理论和基于此验证架构下的各个验证组件的构造原理,并且描述了具体实现的方法。介绍使用C语言扩展TCL脚本语言的方法以及使用C语言扩展Verilog语言的PLI方法,通过使用共享缓存技术实现了验证组件的互联。...
提出一套分层次的芯片验证架构理论和基于此验证架构下的各个验证组件的构造原理,并且描述了具体实现的方法。介绍使用C语言扩展TCL脚本语言的方法以及使用C语言扩展Verilog语言的PLI方法,通过使用共享缓存技术实现了验证组件的互联。最后基于Modelsim仿真工具编程实现了C++,TCL和PLI联合仿真验证环境的搭建。为目前芯片验证方法提出了一套现实的解决方案。
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关键词
芯片验证
C++
TCL
VERILOG
PLI
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职称材料
题名
基于C++ TCL PLI联合仿真下的芯片验证方法研究
1
作者
潘闻融
周智
机构
电子科技大学自动化工程学院
出处
《现代电子技术》
2009年第17期115-117,共3页
文摘
提出一套分层次的芯片验证架构理论和基于此验证架构下的各个验证组件的构造原理,并且描述了具体实现的方法。介绍使用C语言扩展TCL脚本语言的方法以及使用C语言扩展Verilog语言的PLI方法,通过使用共享缓存技术实现了验证组件的互联。最后基于Modelsim仿真工具编程实现了C++,TCL和PLI联合仿真验证环境的搭建。为目前芯片验证方法提出了一套现实的解决方案。
关键词
芯片验证
C++
TCL
VERILOG
PLI
Keywords
ASIC verification
C+ +
TCL
Verilog
PLI
分类号
TP806 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
基于C++ TCL PLI联合仿真下的芯片验证方法研究
潘闻融
周智
《现代电子技术》
2009
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