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四色高温测量中最佳化参数的选择
被引量:
1
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作者
杨经国
陈小波
+1 位作者
靳丽红
潘飞溪
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000年第1期9-12,共4页
本文从黑体辐射定律出发 ,计算了物体辐射谱在四个不同波长处辐射强度的比率。结果表明 ,适当选取四个测量点的波长、四波长之差值及测量点波长带宽 ,该比率与被测辐射体温度之间有良好的单值关系 ,并可一定程度上消除物体单色辐射率对...
本文从黑体辐射定律出发 ,计算了物体辐射谱在四个不同波长处辐射强度的比率。结果表明 ,适当选取四个测量点的波长、四波长之差值及测量点波长带宽 ,该比率与被测辐射体温度之间有良好的单值关系 ,并可一定程度上消除物体单色辐射率对测温的影响。根据结果用图示出了各参数对四色高温测量的影响。
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关键词
黑体辐射定律
四色高温测量
高温计
辐射谱
下载PDF
职称材料
热处理对电子辐照硅中多稳态缺陷的影响
2
作者
齐鸾亭
潘飞溪
游志朴
《四川大学学报(自然科学版)》
CAS
CSCD
1994年第3期326-328,共3页
利用深能级瞬态谱(DLTS)对电子辐照区熔硅中多稳态缺陷进行研究的结果表明。经2h1000℃温度退火后,观测到在能级中的多稳组态由40%减少到10%左右。这一实验结果为多稳态缺陷不是Ps-Ci结构,而是E中心自身在晶...
利用深能级瞬态谱(DLTS)对电子辐照区熔硅中多稳态缺陷进行研究的结果表明。经2h1000℃温度退火后,观测到在能级中的多稳组态由40%减少到10%左右。这一实验结果为多稳态缺陷不是Ps-Ci结构,而是E中心自身在晶场应力下显示多稳态特性的设想提供了有说服力的证明。
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关键词
电子辐照
多稳态缺陷
热处理
硅
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职称材料
题名
四色高温测量中最佳化参数的选择
被引量:
1
1
作者
杨经国
陈小波
靳丽红
潘飞溪
机构
四川大学物理系
出处
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000年第1期9-12,共4页
文摘
本文从黑体辐射定律出发 ,计算了物体辐射谱在四个不同波长处辐射强度的比率。结果表明 ,适当选取四个测量点的波长、四波长之差值及测量点波长带宽 ,该比率与被测辐射体温度之间有良好的单值关系 ,并可一定程度上消除物体单色辐射率对测温的影响。根据结果用图示出了各参数对四色高温测量的影响。
关键词
黑体辐射定律
四色高温测量
高温计
辐射谱
Keywords
Blackbody radiation law, Four color high temperature Measurement
分类号
TH811.2 [机械工程—精密仪器及机械]
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职称材料
题名
热处理对电子辐照硅中多稳态缺陷的影响
2
作者
齐鸾亭
潘飞溪
游志朴
出处
《四川大学学报(自然科学版)》
CAS
CSCD
1994年第3期326-328,共3页
文摘
利用深能级瞬态谱(DLTS)对电子辐照区熔硅中多稳态缺陷进行研究的结果表明。经2h1000℃温度退火后,观测到在能级中的多稳组态由40%减少到10%左右。这一实验结果为多稳态缺陷不是Ps-Ci结构,而是E中心自身在晶场应力下显示多稳态特性的设想提供了有说服力的证明。
关键词
电子辐照
多稳态缺陷
热处理
硅
Keywords
electron irradiation , multistable defect,heat treatment,E-center
分类号
TN304.12 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
四色高温测量中最佳化参数的选择
杨经国
陈小波
靳丽红
潘飞溪
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000
1
下载PDF
职称材料
2
热处理对电子辐照硅中多稳态缺陷的影响
齐鸾亭
潘飞溪
游志朴
《四川大学学报(自然科学版)》
CAS
CSCD
1994
0
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职称材料
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