基于ICP-OES法测定工业硅中铁含量的不确定度评定

介绍了电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-OES)测定工业硅中铁的检测过程。阐述了测定过程不确定度的主要来源,对各不确定度分量进行了量化计算,得出合成标准不确定度、扩展不确定度及测定结果的置信区间。发现测量重复性和工作曲线变动性是引起不确定度的主要因素。