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薄膜光学常数的原位测定 被引量:3
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作者 谢茂彬 吴智勇 +6 位作者 崔恒毅 赵新潮 玄志一 刘清权 刘锋 孙聊新 王少伟 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2022年第5期888-893,共6页
薄膜的光学常数(折射率和消光系数)精度直接影响设计和制造的光学器件的性能。大多数光学常数的测定方法较为复杂,不能直接应用在镀膜过程中。提出了一种薄膜光学常数原位实时测量的方法,通过监测沉积材料的透射率可以快速准确地测量光... 薄膜的光学常数(折射率和消光系数)精度直接影响设计和制造的光学器件的性能。大多数光学常数的测定方法较为复杂,不能直接应用在镀膜过程中。提出了一种薄膜光学常数原位实时测量的方法,通过监测沉积材料的透射率可以快速准确地测量光学常数。测量了高吸收材料Si、低吸收材料Ta_(2)O_(5)和超低吸收材料SiO_(2)的近红外光学常数,用这种方法测得光学常数分别为n=3.22,k=4.6×10^(-3),n=2.06,k=1.3×10^(-3)和n=1.46,k=6.6×10^(-5)。该方法适用于强吸收材料和弱吸收材料光学常数的测定,为在线精确测量薄膜的光学常数提供了一种有效的方法,对设计和制造高质量的光学器件具有重要意义。 展开更多
关键词 光学常数 近红外 薄膜 原位 测定
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On-chip short-wave infrared multispectral detector based on integrated Fabry–Perot microcavities array 被引量:3
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作者 Zhiyi Xuan Qingquan Liu +5 位作者 Zhuangzhuang Cui Songlei Huang Bo Yang Chenlu Li Shaowei Wang Wei Lu 《Chinese Optics Letters》 SCIE EI CAS CSCD 2022年第6期25-29,共5页
We demonstrate an ultra-compact short-wave infrared[SWIR]multispectral detector chip by monolithically integrating the narrowband Fabry–Perot microcavities array with the In Ga As detector focal plane array.A 16-chan... We demonstrate an ultra-compact short-wave infrared[SWIR]multispectral detector chip by monolithically integrating the narrowband Fabry–Perot microcavities array with the In Ga As detector focal plane array.A 16-channel SWIR multispectral detector has been fabricated for demonstration.Sixteen different narrowband response spectra are acquired on a 64×64 pixels detector chip by four times combinatorial etching processes.The peak of the response spectra varies from1450 to 1666 nm with full width at half-maximum of 24 nm on average.The size of the SWIR multispectral detection system is remarkably reduced to a 2 mm^(2) detector chip. 展开更多
关键词 short-wave infrared DETECTOR multi-spectra MICRO-CAVITY ON-CHIP
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