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超大规模集成电路的高级测试生成
1
作者
王厚里
《国外电子测量技术》
1991年第2期28-35,共8页
关键词
VLSI
测试
集成电路
超大规模
下载PDF
职称材料
题名
超大规模集成电路的高级测试生成
1
作者
王厚里
出处
《国外电子测量技术》
1991年第2期28-35,共8页
关键词
VLSI
测试
集成电路
超大规模
分类号
TN470.7 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
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1
超大规模集成电路的高级测试生成
王厚里
《国外电子测量技术》
1991
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