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题名数字晶体管f_T测试误差分析
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作者
王品英
王晶霞
沈源生
缪国平
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机构
江苏长电科技股份有限公司
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出处
《电子与封装》
2012年第4期9-12,19,共5页
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文摘
特征频率fT是数字晶体管的一项重要参数。文章叙述了普通晶体管特征频率fT的测试原理,并从模拟数字晶体管的等效电路着手,通过理论推导,深入分析了fT产生测试误差甚至无法测量的原因。指出基极串联电阻的接入破坏了基极注入信号必须是恒流的测试条件;基极-发射极并联电阻的接入对测试信号起到了分流作用。在这两方面共同作用下,经被测管放大后的集电极信号减小,导致增益下降,必然会产生很大的测试误差。同时文中进行了一系列的试验,与分析结果相符合,并分别给出了串联电阻和并联电阻对fT影响程度的具体数据及曲线图,可为数字晶体管的生产厂商和使用单位的有关人员提供帮助,也可供测试仪器制造厂家的研发人员作为参考。
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关键词
数字晶体管
特征频率fT
恒流源
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Keywords
digital transistor
characteristic frequency
current source
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分类号
TN307
[电子电信—物理电子学]
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题名晶体管的二次击穿及检测
被引量:3
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作者
王晶霞
王品英
沈源生
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机构
江苏长电科技股份有限公司
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出处
《电子与封装》
2011年第11期9-13,共5页
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文摘
晶体管的二次击穿线是构成其安全工作区(SOA)的重要曲线,作者对该问题进行了多年的探讨和实验。文章详尽地论述了二次击穿的机理是由于电流或电压应力所引起的破坏性结果。简要叙述了芯片材料、制造与组装工艺对二次击穿的影响,指出了器件的电性能、应用电路以及环境温度与二次击穿的关系,从而为晶体管避免二次击穿提供了方向。最后介绍了一种检测二次击穿的简易方法,并根据所测得的数据描绘了功率晶体管(2SD880、3DD13003)的二次击穿特性曲线。文中还示出了二次击穿造成芯片损伤以及器件发生二次击穿时的曲线照片。
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关键词
二次击穿
热斑
可调恒流源
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Keywords
second breakdown
hot spot
adjustable current source
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分类号
TN32
[电子电信—物理电子学]
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题名论福建建材国有资产授权经营
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作者
王品英
张贤埠
等
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机构
福建省建材(控股)有限责任公司
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出处
《福建建材》
2001年第1期28-30,共3页
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文摘
福建省省级机构改革方案于二000年三月份出台,省政府专业经济管理部门逐渐剥离行政职能,实施政企分开,改制为授权国有资产经营的国有控股公司或集团公司(国有独资公司),福建省建材工业总公司改为福建省建材(控股)
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关键词
福建
建筑材料
国有资产
授权经营
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分类号
F426.92
[经济管理—产业经济]
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