大功率半导体激光二极管阵列加速寿命试验方法

为了降低大功率半导体激光二极管阵列的寿命评估成本,提出了一种基于威布尔分布,以恒定电流作为加速应力条件的试验方法进行了试验验证。在经过筛选试验剔除不合格品后,共有三组样品在25,27和30 A的电流应力下进行加速寿命试验。样品的寿终判据为输出功率退化达到10%。对样品失效原因进行了分析,记录试验数据并绘制曲线。试验数据分别采用图估计法和数值计算法进行处理。经过对形状参数、特征寿命和平均寿命等参数的对比分析,试验结果验证了该加速寿命试验方法的有效性。

激光显示技术产业及标准化现状

介绍了三种主流的激光显示技术:投影显示、荧光体显示和全息显示。概述了激光显示技术当前的发展现状,梳理了IEC/TC110激光显示器件工作组的国际标准体系,以及国内相关标准的研制进展。

2013年IEC/TC 110年会及工作组会议要点

8月19-24日,IEC/TC110（显示器件技术委员会）在韩国庆州召开了2013年会及各工作组会议。来自中国电子技术标准化研究院、海信集团等十余位中国专家重点参与了以下几个工作组的会议：WG2（液晶显示器件工作组）、WG5（有机发光二极管显示器件工作组）、WG6（立体显示器件工作组）、AHG9（触摸及互动显示特别工作组（正在成立过程中））、AHG10（激光显示器件特别工作组（正在成立过程中））。

基于LabWindows／CVI的电子系统电压／电流性能测试系统

计算机控制电子系统电压电流性能测量，是精确测量系统电压电流性能、简化操作过程、降低人为因素影响的有效方法。该文对应用虚拟仪器软件开发工具Labwinodws／CVI编写、可以完成直流和脉冲情况下电子系统的I—V，I—T，V—T曲线的测量的测试系统的硬件组成和软件设计进行了介绍，该系统可以对电子系统在不同条件下的U／I性能进行测量分析，在实验中获得较好应用。

IEC/TC 110 2014年第一次会议主要议题

5月30日-6月3日,IEC/TC110（电子显示器件技术委员会）2014年第一次各工作组会议在美国圣地亚哥召开,包括WG2、WG5、WG6、WG7、WG8、WG9、WG10、BLU、光学测试方法信息交流会以及AGS顾问战略组会议。来自海信、京东方、浙大三色、东南大学、中国电子技术标准化标准院等单位的十余位中国专家参加了此次会议。

IEC/TC1102013年第三次工作组会议热点

2013年12月2～4日，IEC／TC110平板显示技术委员会在日本札幌召开了2013年第三次各工作组会议。由海信、京东方、维信诺、汇冠科技、浙大三色、东南大学、中国电子技术标准化研究院等单位的十余位中国专家组成的中国代表团重点参与了相关的上作组会议。