软件规模和复杂程度的不断提高,为软件质量保障带来了严峻的挑战.软件缺陷定位是一种重要的软件质量保障技术,其中基于频谱的缺陷定位(Spectrum-based Fault Localization,SFL)是应用最为广泛的软件缺陷定位技术,其通过分析语句覆盖信...软件规模和复杂程度的不断提高,为软件质量保障带来了严峻的挑战.软件缺陷定位是一种重要的软件质量保障技术,其中基于频谱的缺陷定位(Spectrum-based Fault Localization,SFL)是应用最为广泛的软件缺陷定位技术,其通过分析语句覆盖信息矩阵计算代码语句的可疑度值,并根据可疑度值定位缺陷所在语句.然而,语句覆盖信息矩阵中存在着严重的数据冗余问题,冗余的数据极大地影响了SFL的缺陷定位性能.以Defects4J数据集中395个程序的语句覆盖信息矩阵为例,在超过一半的语句覆盖信息矩阵中有90%的语句存在与其具有相同覆盖信息的语句.特征选择是常用的数据预处理技术,通过去除冗余和不相关特征来获取原始特征集中有价值的特征子集.因此,我们将语句覆盖信息矩阵作为原始特征集,将冗余覆盖信息约简建模为特征选择问题,提出了一种基于冗余覆盖信息约简的软件缺陷定位方法(Fault Localization based on Redundant coverage information Reduction,FLRR).首先,使用特征选择技术对语句覆盖信息和测试用例执行结果组成的语句覆盖信息矩阵进行约简,得到语句覆盖信息矩阵子集;然后,使用SFL计算语句覆盖信息矩阵子集中语句的可疑度值,并根据可疑度值对语句进行降序排列,以定位缺陷语句.本文使用六种常用的特征选择技术对语句覆盖信息矩阵进行特征选择和约简,以得到语句覆盖信息矩阵子集,并使用四种典型的SFL技术对语句覆盖信息矩阵子集中的语句进行缺陷定位.为评估FLRR的缺陷定位性能,本文使用E_(inspect)@n和MRR(Mean Reciprocal Rank)评价指标在基于Defects4J的数据集上与四种典型的SFL技术进行了对比实验.实验结果表明,FLRR能够有效提升SFL的缺陷定位性能.对于E_(inspect)@n指标,当n=1时,FLRR相比DStar、Ochiai、Barinel和OP2分别多定位到23条、26条、14条和13条缺陷语句,分别增加了69.70%、76.47%、45.16%和38.24%;对于MRR指标,FLRR相比DStar、Ochiai、Barinel和OP2分别提升了20.08%、24.94%、17.45%和19.15%.展开更多
由烯丙基缩水甘油醚与四甲基二氢二硅氧烷硅氢加成制得高纯度的1,3-双(3-缩水甘油醚氧基丙基)四甲基二硅氧烷()。采用、表征了其化学结构,测得产品1BGPTD H NMR FT-IR GC中α-加成产物含量达98.5%以上。评价了该产品在环氧浇注树脂方面...由烯丙基缩水甘油醚与四甲基二氢二硅氧烷硅氢加成制得高纯度的1,3-双(3-缩水甘油醚氧基丙基)四甲基二硅氧烷()。采用、表征了其化学结构,测得产品1BGPTD H NMR FT-IR GC中α-加成产物含量达98.5%以上。评价了该产品在环氧浇注树脂方面的应用特点。展开更多
文摘软件规模和复杂程度的不断提高,为软件质量保障带来了严峻的挑战.软件缺陷定位是一种重要的软件质量保障技术,其中基于频谱的缺陷定位(Spectrum-based Fault Localization,SFL)是应用最为广泛的软件缺陷定位技术,其通过分析语句覆盖信息矩阵计算代码语句的可疑度值,并根据可疑度值定位缺陷所在语句.然而,语句覆盖信息矩阵中存在着严重的数据冗余问题,冗余的数据极大地影响了SFL的缺陷定位性能.以Defects4J数据集中395个程序的语句覆盖信息矩阵为例,在超过一半的语句覆盖信息矩阵中有90%的语句存在与其具有相同覆盖信息的语句.特征选择是常用的数据预处理技术,通过去除冗余和不相关特征来获取原始特征集中有价值的特征子集.因此,我们将语句覆盖信息矩阵作为原始特征集,将冗余覆盖信息约简建模为特征选择问题,提出了一种基于冗余覆盖信息约简的软件缺陷定位方法(Fault Localization based on Redundant coverage information Reduction,FLRR).首先,使用特征选择技术对语句覆盖信息和测试用例执行结果组成的语句覆盖信息矩阵进行约简,得到语句覆盖信息矩阵子集;然后,使用SFL计算语句覆盖信息矩阵子集中语句的可疑度值,并根据可疑度值对语句进行降序排列,以定位缺陷语句.本文使用六种常用的特征选择技术对语句覆盖信息矩阵进行特征选择和约简,以得到语句覆盖信息矩阵子集,并使用四种典型的SFL技术对语句覆盖信息矩阵子集中的语句进行缺陷定位.为评估FLRR的缺陷定位性能,本文使用E_(inspect)@n和MRR(Mean Reciprocal Rank)评价指标在基于Defects4J的数据集上与四种典型的SFL技术进行了对比实验.实验结果表明,FLRR能够有效提升SFL的缺陷定位性能.对于E_(inspect)@n指标,当n=1时,FLRR相比DStar、Ochiai、Barinel和OP2分别多定位到23条、26条、14条和13条缺陷语句,分别增加了69.70%、76.47%、45.16%和38.24%;对于MRR指标,FLRR相比DStar、Ochiai、Barinel和OP2分别提升了20.08%、24.94%、17.45%和19.15%.
文摘基于频谱的缺陷定位(spectrum-based fault localization,SBFL)通过分析测试用例的覆盖信息和执行结果信息进行快速定位,是目前最常用的缺陷定位技术。然而,该方法未能充分利用代码中隐含的语义和结构信息。若能将缺陷预测中使用到的代码结构信息和频谱信息融合使用,将有助于进一步提升缺陷定位的效果。为此,提出了一种融合代码静态特征和频谱的软件缺陷定位(fault localization combing static features and spectrums,FLFS)技术。首先,从Halstead等度量元集合中选取度量元指标并进行修改,以适用于度量代码的方法级特征;然后,根据选取的度量元指标提取程序中各个方法的静态特征并用于训练缺陷预测模型;最后,使用缺陷预测模型预测程序中各方法存在缺陷的预测可疑度,并与SBFL技术计算的频谱可疑度进行融合,以定位缺陷所在方法。为验证FLFS的有效性,将其与两种定位效果最好的SBFL技术DStar和Ochiai在Defects4J数据集上进行了对比实验。结果表明,FLFS具有更好的缺陷定位性能,对于E inspect@n指标,当n=1时,FLFS相比DStar和Ochiai分别多定位到16和10个缺陷;对于MRR指标,FLFS相比DStar和Ochiai分别提升了4.13%和1.08%。
