基于ICCD光子计数的滤光片透过率测试

针对光经深截止滤光片衰减后,达到光子计数水平,其透过率难以用一般测量仪器测出的情况,设计了基于ICCD的光子计数成像系统,介绍了系统的工作原理,硬件组成和图像处理所涉及到的软件算法,给出了利用单位时间内透过的光子数计算透过率的计算方法,并对一给定的日盲滤光片进行了透过率测试。在特定波长范围内,测试结果的数值相对实际情况偏小,测试结果的数量级与实际一致,表明该系统的测试稳定性较高。经过分析,系统最小可探测到每秒钟几百个光子,可用于经滤光片衰减后达光子计数水平的滤光片透过率测试。