光盘盘基缺陷自动测试仪

本文介绍了一台用于评价光盘和盘基表面缺陷特性的自动测试仪器。仪器采用伺服聚焦的激光束扫描高速转动的光盘或光盘基片表面,探测出其表面缺陷。利用电子技术对缺陷信号进行快速分类和统计。综合应用光学、机械、电子技术和计算机等方面技术,实现了(?)89mm～(?)130mm 光盘和光盘基片的自动测量和评价。仪器可测量光盘和基片的表面麻点、划痕、沾污、膜层针孔等缺陷,测试缺陷尺寸范围为0.3～180μm,测定平均缺陷密度值D_u,范围为10^(-2)～10^(-7),重复统计测量误差小于10%。

控制激光的可编程脉冲信号发生器

用可编程脉冲信号发生器控制激光脉冲的频率、脉宽和功率,使激光脉冲在微机控制下可组成各种激光脉冲序列。

磁光盘静态测试仪

本文描述了一台由金相显微镜改装的,可擦重写磁光盘材料的评价装置。它具有激光功率,脉宽以及外磁场变化范围大的特点。同时,能进行材料读写性能,灵敏度,均匀性和重复擦写次数的测量。全部测量过程都由计算机控制,操作方便。使用结果表明,它是评价光盘材料和制盘工艺的有用设备。

半导体激光器电源中的保护技术

在设计半导体激光电源时，利用继电器的工作特性对半导体激光器实施有效保护，可提高半导体激光器工作的安全性和延长激光器的使用寿命。

一种用于半导体激光器的高精度温控仪

利用温度传感器AD590和运算放大器LM358构成放大电路，用半导体致冷器做控温元件，研制了一种用于半导体激光器温度控制用的高精度温控仪，控制精度达0.1℃。

光盘表面缺陷的快速分类与质量评价

本文介绍一种利用多通道脉冲宽度鉴别技术直接对光盘表面或光盘盘片表面缺陷进行快速分类和统计的方法和实验结果。通过对聚焦激光束扫描盘面获得的缺陷信号的脉冲宽度分类,统计各类缺陷个数,计算缺陷密度值,有效地评价光盘表面的性能质量。

磁光盘系统中偏振光能量传递的计算

本文通过对磁光盘系统中偏振光能量传递的计算,研制了实验光路。实验结果表明,理论计算和实验数据一致。