基于累加平均的超声C扫信号降噪方法研究

工件内部缺陷在其形成初期,尺寸较小,因此难以使用超声C扫描成像技术获得其高精度成像。本研究开展了基于累加平均技术的超声C扫信号降噪方法,探究累加平均次数对降噪效果的影响。为了验证该方法的有效性,对直径1mm平底孔缺陷的多次水浸超声C扫实验信号进行处理,研究结果表明:此方法能够提高回波信号的信噪比和超声C扫图像的成像效果。