题名 高气压不同碳源浓度对纳米金刚石薄膜生长影响研究
被引量:2
1
作者
白傲
汪建华
何硕
熊刚
周程
梁天
机构
武汉工程大学材料科学与工程学院湖北省等离子体化学与新材料重点实验室
出处
《真空与低温》
2018年第2期107-111,共5页
基金
武汉工程大学研究生教育创新基金项目(No.CX2016021)
文摘
利用微波等离子体气相沉积法,以氢气、氩气、甲烷为气源,在20~26 k Pa,碳源浓度0.3%~1%条件下,通过改变气压与碳源浓度来制备纳米金刚石薄膜。运用Raman、SEM、XRD分别表征纳米金刚石薄膜的质量、表面形貌、晶粒大小。结果表明随着气压升高,沉积速率越快,薄膜质量先升高后降低。在一定气压范围内可以通过增大气压减少碳源浓度,能获得相对高质量的纳米金刚石薄膜。
关键词
微波等离子体
化学气相沉积
纳米金刚石薄膜
气压
Keywords
microwave plasma
Chemical vapor Deposition
nanocrystalline dialnond
pressure
分类号
TB383
[一般工业技术—材料科学与工程]
题名 高气压对MPCVD沉积金刚石薄膜的影响
被引量:2
2
作者
梁天
汪建华
翁俊
刘繁
孙祁
周程
熊刚
白傲
机构
武汉工程大学湖北省等离子体化学与新材料重点实验室
出处
《真空与低温》
2018年第1期54-59,共6页
基金
湖北省教育厅科学技术研究计划优秀中青年人才项目(Q20151517)
武汉工程大学教育创新基金(No.CX2016021)
文摘
本研究在10 kW微波等离子体CVD装置中进行,以仿真模拟为辅助理论依据研究了在一定的高功率环境下,气压对金刚石薄膜沉积质量的影响。利用SEM表征对金刚石表面形貌变化进行分析,利用Raman表征结果分析了不同气压环境下金刚石薄膜的结晶质量及半高宽的变化情况。研究结果表明,气压对电子密度影响很大,进而影响金刚石沉积薄膜的表面形貌。在5 kW微波功率下,17 kPa为最优沉积气压,沉积形貌相对最好,半高宽最小。当气压低于17 kPa时,结晶质量随气压增大而增大;当超过17 kPa时,结晶质量不增反降。
关键词
微波等离子体
化学气相沉积
金刚石薄膜
Keywords
microwave plasma
chemical vapor deposition
diamond film
分类号
TB383
[一般工业技术—材料科学与工程]
O484
[理学—固体物理]
题名 我国财政税收管理体制创新对策探究
3
作者
白傲
机构
辉南县财政局
出处
《商情》
2013年第40期56-56,共1页
文摘
税收政策是我国经济政策的重要组成部分,在我国经济发展以及人民生活水平的提高中发挥着至关重要的作用。而财政税收管理则是我国整个财政税收体系建设的重要组成部分,做到体制创新完善管理,对于整个税收体系的完善以及管理水平的提高有着重要的意义。本文从我国财政税收管理体制中存在的一些问题方面入手对我国税收管理体制创新进行了深入探究。
关键词
财政税收
管理体制
对策创新
分类号
F812.42
[经济管理—财政学]
题名 高功率MPCVD中氧气对金刚石膜生长的影响研究
4
作者
周程
汪建华
翁俊
刘繁
孙祁
熊刚
白傲
梁天
机构
武汉工程大学湖北省等离子体化学与新材料重点实验室
出处
《真空与低温》
2017年第6期336-340,共5页
基金
湖北省教育厅科学技术研究计划优秀中青年人才项目(Q20151517)
武汉工程大学教育创新基金(No.CX2016021)
文摘
采用自制10kW微波等离子体装置,在CH_4/H_2气源中添加不同浓度O_2,探讨了O_2对金刚石薄膜生长的影响。利用扫描电子显微镜、激光拉曼光谱仪以及X射线衍射仪对金刚石薄膜的表面形貌、结晶质量以及晶粒取向进行了表征。结果表明,O_2浓度在0~0.9%范围内,所制备的金刚石薄膜品质随着O_2浓度的提升逐渐升高,当O_2浓度达到0.9%时,所制备的金刚石薄膜品质最好,其杂质含量低,金刚石半高宽值达到6.2cm^(-1),且金刚石晶粒基本表现为(111)面生长,具有较高晶面取向。但当O_2浓度超过到1.0%后,金刚石的生长会遭到破坏。
关键词
高功率MPCVD
O2
金刚石薄膜
Keywords
high power MPCVD
O2
diamond films
分类号
O484
[理学—固体物理]
TQ164
[化学工程—高温制品工业]
题名 氢氧等离子体预处理对单晶金刚石刻蚀坑的研究
被引量:2
5
作者
熊刚
汪建华
翁俊
白傲
周程
刘繁
机构
武汉工程大学材料科学与工程学院湖北省等离子体化学与新材料重点实验室
中国科学院等离子体物理研究所
出处
《真空科学与技术学报》
CSCD
北大核心
2017年第9期909-915,共7页
文摘
采用自制的微波等离子体化学气相沉积装置,在高温高压法合成的金刚石的衬底上外延生长单晶金刚石。实验分为两步,首先用氢氧等离子体在生长之前进行预处理刻蚀,然后外延生长30 h。利用金相显微镜和激光拉曼光谱来表征单晶金刚石刻蚀坑以及外延生长的单晶金刚石质量。研究结果表明,氧会优先刻蚀籽晶表面的缺陷和位错,可以通过刻蚀坑密度来判断衬底质量,且经过预处理刻蚀能消除单晶金刚石表面的缺陷。籽晶表面经刻蚀后会出现平底型和尖锥型两种倒金字塔型刻蚀坑,且晶体表面的原本缺陷或由抛光造成起的缺陷会随刻蚀时间延长、刻蚀强度增大而消失。经过氢氧等离子体预处理外延生长的单晶中非金刚石相杂质含量较少,结晶性高。
关键词
微波等离子体
化学气相沉积
单晶金刚石
刻蚀坑
Keywords
Microwave plasma, CVD, Single crystals, Etch pit
分类号
O484
[理学—固体物理]