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新型功率半导体器件IGCT的核心技术 被引量:3
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作者 王 颖 李双美 +3 位作者 吴春瑜 白纪彬 朱长纯 姚振华 《辽宁大学学报(自然科学版)》 CAS 2002年第2期115-120,共6页
在目前的中电压大功率应用领域,占主导地位的功率半导体器件有晶闸管、GTO和IGBT等.这些传统的功率器件在实用方面都存在一些缺陷.ABB半导体公司率先提出了一种新型功率半导体器件-IGCT.它具有大电流、高电压、开关频率高、高可靠性、... 在目前的中电压大功率应用领域,占主导地位的功率半导体器件有晶闸管、GTO和IGBT等.这些传统的功率器件在实用方面都存在一些缺陷.ABB半导体公司率先提出了一种新型功率半导体器件-IGCT.它具有大电流、高电压、开关频率高、高可靠性、结构紧凑、低损耗的特点.在性能上明显优于目前广泛使用的GTO和IGBT器件.本文对IGCT器件及其工作原理进行简单介绍,并着重对其四项核心技术:缓冲层,透明阳极,逆导和集成门极技术,以及它们对器件性能的改善进行阐述. 展开更多
关键词 功率半导体器件 IGCT 核心技术 缓冲层 透明阳极 逆导技术 集成门极 绝缘栅双极型晶体管
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SiC埋层的制备与性质研究 被引量:2
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作者 吴春瑜 沈桂芬 +3 位作者 王颖 朱长纯 李玉魁 白纪彬 《功能材料与器件学报》 CAS CSCD 2002年第1期5-7,共3页
在衬底温度400℃条件下对n型(100)单晶硅进行剂量分别为5×1017cm-1和1×1018cm-1的C+注入,经过在1050℃氮气氛下进行60min退火形成β-SiC埋层。通过X射线光电子能谱(XPS),俄歇电子能谱(AES)及付立叶变换红外吸收光谱(FTIR),对... 在衬底温度400℃条件下对n型(100)单晶硅进行剂量分别为5×1017cm-1和1×1018cm-1的C+注入,经过在1050℃氮气氛下进行60min退火形成β-SiC埋层。通过X射线光电子能谱(XPS),俄歇电子能谱(AES)及付立叶变换红外吸收光谱(FTIR),对所形成的碳化硅埋层进行了测试与分析。结果表明在此条件下,在Si中可以形成一定的SiC埋层,并且C+离子注入硅衬底可以形成β-SiC和α-SiC。SiC埋层主要由非立方相的α-SiC和立方相的β-SiC所构成。 展开更多
关键词 离子束合成 能量损失谱 碳化硅埋层 半导体材料 制备 性质
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