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题名新型功率半导体器件IGCT的核心技术
被引量:3
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作者
王 颖
李双美
吴春瑜
白纪彬
朱长纯
姚振华
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机构
辽宁大学物理系
西安电力电子研究所
西安交通大学电子信息与工程学院
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出处
《辽宁大学学报(自然科学版)》
CAS
2002年第2期115-120,共6页
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基金
国家自然科学基金(69876013)资助项目
辽宁省科技厅自然科学基金(002021)资助项目
辽宁省教育厅自然基金(20021076)资助项目
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文摘
在目前的中电压大功率应用领域,占主导地位的功率半导体器件有晶闸管、GTO和IGBT等.这些传统的功率器件在实用方面都存在一些缺陷.ABB半导体公司率先提出了一种新型功率半导体器件-IGCT.它具有大电流、高电压、开关频率高、高可靠性、结构紧凑、低损耗的特点.在性能上明显优于目前广泛使用的GTO和IGBT器件.本文对IGCT器件及其工作原理进行简单介绍,并着重对其四项核心技术:缓冲层,透明阳极,逆导和集成门极技术,以及它们对器件性能的改善进行阐述.
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关键词
功率半导体器件
IGCT
核心技术
缓冲层
透明阳极
逆导技术
集成门极
绝缘栅双极型晶体管
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Keywords
IGCT
buffer layer
transparent anode
reverse conduction
integrated gate drive.
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分类号
TN322.8
[电子电信—物理电子学]
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题名SiC埋层的制备与性质研究
被引量:2
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作者
吴春瑜
沈桂芬
王颖
朱长纯
李玉魁
白纪彬
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机构
西安交通大学电子与信息工程学院
辽宁大学物理系
西安电力电子研究所
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出处
《功能材料与器件学报》
CAS
CSCD
2002年第1期5-7,共3页
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基金
辽宁省科委自然科学基金(No.972094)
国家自然科学基金资助项目(No.69876013)
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文摘
在衬底温度400℃条件下对n型(100)单晶硅进行剂量分别为5×1017cm-1和1×1018cm-1的C+注入,经过在1050℃氮气氛下进行60min退火形成β-SiC埋层。通过X射线光电子能谱(XPS),俄歇电子能谱(AES)及付立叶变换红外吸收光谱(FTIR),对所形成的碳化硅埋层进行了测试与分析。结果表明在此条件下,在Si中可以形成一定的SiC埋层,并且C+离子注入硅衬底可以形成β-SiC和α-SiC。SiC埋层主要由非立方相的α-SiC和立方相的β-SiC所构成。
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关键词
离子束合成
能量损失谱
碳化硅埋层
半导体材料
制备
性质
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Keywords
SiC
iron beam synthesis
energy loss spectroscope
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分类号
TN304.24
[电子电信—物理电子学]
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