基于JAS膜技术下TFT-LCD像素电压串扰的影响因素研究

基于JAS膜技术的像素结构,通过分析实验,研究对比了JAS和non-JAS两个机种下,不同的面板反转方式分别对这两个机种像素电压的串扰影响。结果发现,non-JAS机种的像素电压在不同反转方式下受到串扰的影响最小,JAS机种由于数据线与TFT漏极之间的寄生电容(C_(sd))的影响而产生颜色串扰的问题,并提出了问题的解决方法。本文的研究结果对大尺寸、高分辨率TFT-LCD产品的像素电压串扰问题及像素结构设计上有一定的指导作用和参考意义。