基于FPGA的微波相干源线性检测和特性表征

微波光子的检测和表征对于量子信息具有重要意义。通常使用Hanbury Brown-Twiss(HBT)干涉仪对光子源性质进行检测和表征,然而,由于微波光子信噪比较低,在对其进行检测和表征过程中常常需要多次计算才能移除噪声影响。本工作基于现场可编程门阵列(FPGA),提出一种快速、可扩展的测量方案用于分析微波光子源性质,可更快速地实现该计算过程。利用该方案对频率为3 MHz的相干源进行了模拟测量,分析了二阶相关函数所具有的特性,发现测量结果与理论具有良好的一致性。该系统的实现对未来进行单光子源检测具有重要意义。