ZnO/Cu多层膜的制备及电磁屏蔽性能研究

采用磁控溅射法在涤纶水刺非织造布表面沉积纳米结构Cu单层膜和ZnO/Cu多层膜,利用原子力显微镜(AFM)对薄膜表面形貌进行分析,并利用四探针测试仪和矢量网络分析仪对样品的电学性能进行了测试。结果表明,在ZnO薄膜表面生长的Cu膜比在PET织物表面生长的Cu膜的均匀性、电学性能要好;在Cu镀膜时间相同的情况下,随着ZnO镀膜时间的增加,多层膜ZnO/Cu的电学性能先提高后降低,当ZnO镀膜时间为20min时,多层膜的电学性能达到最好;在ZnO镀膜时间相同的情况下,随着Cu镀膜时间的增加,多层膜ZnO/Cu的电学性能和织物表面颗粒均匀性经历了先提高、最后趋于稳定的过程,屏蔽效能最大平均值达到56dB。

Cu/Al_2O_3复合薄膜的制备及其抗氧化性能

本文在纺织纤维基材表面采用二次溅射沉积法制备了Cu/Al_2O_3复合薄膜,利用扫描电镜(SEM)、X射线能谱仪(EDX)和矢量网络分析仪对室温环境下存放3600h的复合薄膜的表面形貌、元素含量以及屏蔽效能进行了测试,并与相同工艺条件下制备的纯Cu薄膜进行了对比分析。结果表明:与纯Cu薄膜结构的不稳定性相比,由于复合薄膜表层Al_2O_3薄膜的结构稳定性和致密性,Cu/Al_2O_3复合薄膜在保证高屏蔽性能的前提下,具有整体结构的稳定性,表现出了良好的抗氧化性能。

层状复合电磁屏蔽材料的制备及性能研究

采用磁控溅射法在涤纶水刺非织造布表面沉积纳米结构单层膜、双层膜及层状复合薄膜(在织物两面分别沉积薄膜),利用原子力显微镜(AFM)对薄膜的表面形貌进行分析,并利用四探针测试仪和矢量网络分析仪对样品的电学性能进行了测试。结果表明,在总镀膜时间不变的情况下,层状复合薄膜的电学性能明显优于单层膜和双层膜电学性能,Cu层状复合薄膜电学性能要好于Al层状复合薄膜的电学性能;随着Cu镀膜时间的增加,复合薄膜的颗粒均匀性和电学性能都有所提高,当织物两面镀膜时间各为60min时,屏蔽效能达到80dB。

双面结构电磁屏蔽材料的制备及性能研究

采用磁控溅射法在涤纶水刺非织造布单面和双面分别沉积了纳米结构的Cu薄膜,利用矢量网络分析仪对所制备样品的电磁屏蔽效能进行了测试,并理论计算分析了单面屏蔽材料和双面屏蔽材料的屏蔽效能。结果表明:在总镀膜时间相同的情况下,双面屏蔽材料的电磁屏蔽效能要明显优于普通单面屏蔽材料的电磁屏蔽效能;普通单面屏蔽材料只对低波有相对较好的屏蔽效果,而双面屏蔽材料对低波和高波都有相对较好的屏蔽效果,且随着电磁波频率的增大,其屏蔽效能呈增大的趋势。

双面纺织屏蔽材料的制备及CuO抗氧化性能研究

采用磁控溅射法在纺织基材表面沉积了Cu薄膜和Cu/CuO复合薄膜。在相同镀膜时间下对单面Cu薄膜和双面Cu薄膜屏蔽材料的屏蔽效能进行了测试与分析;并对双面Cu薄膜和Cu/CuO复合薄膜屏蔽材料的抗氧化性能进行了对比测试。结果表明:双面Cu薄膜屏蔽材料的屏蔽效能高于单面Cu薄膜屏蔽材料;将双面Cu薄膜屏蔽材料和Cu/CuO复合薄膜屏蔽材料放置在相同室温环境中120d,双面Cu薄膜屏蔽材料发生了严重的氧化;Cu/CuO复合薄膜屏蔽材料虽然出现部分氧化,但整体性能完好,表现出较好的抗氧化效果。

双面结构电磁屏蔽材料的制备及抗氧化性能研究

采用磁控溅射法在纺织纤维基材的表面沉积了Cu薄膜以及Cu/Al_2O_3复合薄膜。对总溅射时间相等条件下所制备的单面Cu薄膜和双面Cu薄膜纤维屏蔽材料的屏蔽效能进行了测试与分析,并对双面Cu薄膜和Cu/Al_2O_3复合薄膜的纤维屏蔽材料的抗氧化性能进行了测试对比。结果表明:双面Cu薄膜屏蔽材料的屏蔽效能要明显优于单面Cu薄膜屏蔽材料的屏蔽效能;将双面Cu薄膜和Cu/Al_2O_3复合薄膜的纤维屏蔽材料放置在相同室温环境中60d,双面Cu薄膜纤维屏蔽材料发生了严重的氧化;而Cu/Al_2O_3复合薄膜纤维屏蔽材料仅有轻微氧化,整体性能良好。