基于RAS结构优化测试时间和数据量的测试方案

大规模高密度的集成电路在测试中遇到了测试数据量大,测试时间长等问题.对此,本文提出了一种带有折叠集的完全测试方案.该方案利用RAS(Random access scan)结构控制经输入精简的扫描单元,先生成若干折叠集检测电路中大部分的故障,然后直接控制扫描单元生成剩余故障的测试向量.本方案生成的折叠集故障检测率高,所需控制数据少.实验数据表明与同类方法相比,本方案能有效减少测试数据量和测试时间.

基于分组共享种子和位翻转的测试数据压缩方法

文章提出了一种基于分组共享种子和位翻转的测试数据压缩方法。该方法根据测试集生成的特点,将确定位处于相同位置的测试向量分为一类,并将每类确定位不同处无关位化,合并得到每类的首模式,这就减少了首模式确定位的个数;同时每类中向量共享一个种子,减少了编码种子个数,提高种子的利用率,达到压缩测试数据的目的;解压时通过记录与LFSR重新播种展开序列确定位不同处的地址信息和翻转信号还原即可。实验表明,该方法与基于部分向量切分的LFSR重新播种方法和混合码相比,在压缩效率上具有明显的优势。

基于折叠集的低功耗测试

提出了一种利用折叠计数器特点,基于完全测试集的低功耗测试方案。方案先用几个相关性很好的折叠集测试电路中大部分的故障,然后直接翻转扫描单元中的数据得到剩余故障的测试向量。在硬件上,采用一个地址计数器和随机访问扫描(RAS)结构相结合实现了并行的折叠控制。与传统的混合测试模式相比,克服了伪随机测试阶段带来的功耗问题。实验结果表明,该方案能够有效降低测试功耗和测试时间。

分组频率Golomb码测试数据压缩研究

提出了一种称为分组频率Golomb码的测试数据压缩方法。方案针对测试集中游程长度分布的不均匀性,重新构建Golomb码的前缀码,用短码字来编码包含游程长度多的分组。同时,在差分过程中,通过给无关位合理赋值来减少测试集中"1"的个数,从而减少了游程的数目。实验结果表明,建议方案能有效提高Golomb码的压缩率。