组合电路的故障测试生成并行ATPG算法研究

自动测试向量生成(ATPG)是借助计算机或者其他工具根据一定的测试生成算法自动的为被测电路生成测试向量的过程。文章给出了一种位级并行(split-into-W-clones)自动测试向量生成算法,该算法的判决按照位逻辑操作运算进行。通过将该算法与SCOAP可测性测度结合起来,为该算法前后向蕴涵选择最优路径,提高每次回溯成功的概率,达到减少回溯次数、加速测试向量的生成和提高故障覆盖率的目的。通过实验看出改进后的算法具有良好的性能。