存储测试信号统计特性分析

本文主要对几种典型的存储测试信号的差分布加以统计分析,以期找出其统计分布规律,从而在此基础上建立其数学模型,为进一步对其进行压缩编码提供依据。

有限间距误差限算法硬件实现电路中的关键控制电路的设计

存储测试系统压缩电路是一种动态自适应压缩电路,它能够实现对250kHz以上快速信号的冗余判断、压缩编码及存储控制。本文主要对电路总体设计过程中的几个关键控制部分即:冗余采样点预测期间数据传输流向控制电路、冗余点数计数器的清零电路、冗余点采样传输期间地址非匀速推进控制电路的设计及其功能的实现加以详细的阐述。