氧化锌中的本征点缺陷对材料光电性能的影响

ZnO薄膜中的本征点缺陷对材料的电学、发光性能有着至关重要的影响。目前,对本征点缺陷的研究是ZnO领域的一大热点,也是实现ZnO基光电器件的关键技术之一。本文结合最新研究,扼要综述了本征点缺陷的电荷特性、对本征ZnO为n型的作用机理、对p型ZnO制备的影响及点缺陷对薄膜绿光发光的贡献。

基于ADμC841的微波功率放大器监控单元

文章介绍了基于新型数据采集系统芯片ADC841研制的微波功率放大器监控单元。该系统可实现对多路功放性能参数的监测,具有液晶显示、上下限报警、近端和远程通信、智能控制等功能。所提供的硬件电路和软件设计具有一定的通用性和实用性,可作为各种智能仪表的开发平台。