HL-2A环形阿尔芬本征模不稳定性的模拟研究

为了帮助理解HL-2A装置的实验现象,采用本征值程序GAM对HL-2A实验中环形阿尔芬本征模(TAE)的线性性质进行了模拟研究,模拟结果与实验结果一致。此外,分析了具有不同安全因子剖面的TAE的连续谱、模结构和模频率。对于正常磁剪切,发现芯部(√ψT<0.3)的TAE的径向模结构由两个相邻的极向谐波组成,而外区(√ψT=0.3~0.9)的TAE的径向模结构由8个较高的极向谐波组成,这表明磁剪切在极向谐波耦合中起着重要作用。当安全因子剖面在芯部存在反剪切时,反剪切区域的TAE消失,外区的TAE的径向宽度变窄。最后,研究了电子密度剖面对TAE的影响,发现TAE模频率随电子密度的增加而降低,而模结构对电子密度的变化不敏感。