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基于低电源电压混频器的设计
被引量:
1
1
作者
张红南
罗丕进
+2 位作者
黄雅攸
张卫青
曾云
《湖南大学学报(自然科学版)》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第5期49-52,共4页
提出了一种适用于低电源电压应用的混频器,其核心部分采用开关跨导形式,使得开关器件导通时的有限开态电阻引起的电压降减小到零,并在输出端采用折叠级联输出,降低了负载电阻引起的直流电压降,达到了在低电源电压下应用的目的.在1.3 V...
提出了一种适用于低电源电压应用的混频器,其核心部分采用开关跨导形式,使得开关器件导通时的有限开态电阻引起的电压降减小到零,并在输出端采用折叠级联输出,降低了负载电阻引起的直流电压降,达到了在低电源电压下应用的目的.在1.3 V的电源电压下,电路仿真结果显示:转换增益为-11.5 dB,噪声系数为20.648 dBm,1 dB压缩点为-5.764 dBm,三阶交调失真点为4.807 dBm.
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关键词
混频器
开关跨导
折叠
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职称材料
多芯片组件(MCM)的可测性设计
2
作者
张红南
赵琼
+2 位作者
刘晓巍
华孝泉
罗丕进
《湖南大学学报(自然科学版)》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005年第4期62-66,共5页
为克服在线测试技术测试MCM时不能达到满意的故障覆盖率的困难,采用可测性技术对MCM进行设计.根据MCM的特点和测试要求,提出了在JTAG标准基础上扩展指令寄存器,添加专门的用户指令,融合扫描通路法、内建自测试法等可测性方法,分层次地对...
为克服在线测试技术测试MCM时不能达到满意的故障覆盖率的困难,采用可测性技术对MCM进行设计.根据MCM的特点和测试要求,提出了在JTAG标准基础上扩展指令寄存器,添加专门的用户指令,融合扫描通路法、内建自测试法等可测性方法,分层次地对MCM进行全面测试.建立模型进行验证的结果表明:该方法能有效地测试MCM,缩短了测试时间,故障覆盖率达到95%以上.
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关键词
多芯片组件
JTAG
可测性设计
MCM
指令寄存器
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职称材料
题名
基于低电源电压混频器的设计
被引量:
1
1
作者
张红南
罗丕进
黄雅攸
张卫青
曾云
机构
湖南大学物理与微电子科学学院
湖南大学计算机与通信学院
出处
《湖南大学学报(自然科学版)》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第5期49-52,共4页
基金
湖南省自然科学基金资助项目(05JJ30115)
文摘
提出了一种适用于低电源电压应用的混频器,其核心部分采用开关跨导形式,使得开关器件导通时的有限开态电阻引起的电压降减小到零,并在输出端采用折叠级联输出,降低了负载电阻引起的直流电压降,达到了在低电源电压下应用的目的.在1.3 V的电源电压下,电路仿真结果显示:转换增益为-11.5 dB,噪声系数为20.648 dBm,1 dB压缩点为-5.764 dBm,三阶交调失真点为4.807 dBm.
关键词
混频器
开关跨导
折叠
Keywords
mixer
switched transconductor
folded
分类号
TN773 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
多芯片组件(MCM)的可测性设计
2
作者
张红南
赵琼
刘晓巍
华孝泉
罗丕进
机构
湖南大学应用物理系
湖南大学电气与信息工程学院
出处
《湖南大学学报(自然科学版)》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005年第4期62-66,共5页
基金
湖南省自然科学基金资助项目(01JJY2113)
文摘
为克服在线测试技术测试MCM时不能达到满意的故障覆盖率的困难,采用可测性技术对MCM进行设计.根据MCM的特点和测试要求,提出了在JTAG标准基础上扩展指令寄存器,添加专门的用户指令,融合扫描通路法、内建自测试法等可测性方法,分层次地对MCM进行全面测试.建立模型进行验证的结果表明:该方法能有效地测试MCM,缩短了测试时间,故障覆盖率达到95%以上.
关键词
多芯片组件
JTAG
可测性设计
MCM
指令寄存器
Keywords
Multi Chip Module (MCM)
Joint Test Action Group (JTAG)
Design for Testability (DFT)
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于低电源电压混频器的设计
张红南
罗丕进
黄雅攸
张卫青
曾云
《湖南大学学报(自然科学版)》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007
1
下载PDF
职称材料
2
多芯片组件(MCM)的可测性设计
张红南
赵琼
刘晓巍
华孝泉
罗丕进
《湖南大学学报(自然科学版)》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005
0
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
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引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
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