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氮化硅湿法蚀刻中热磷酸的蚀刻率
被引量:
8
1
作者
肖方
汪辉
罗仕洲
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2007年第10期847-850,共4页
在半导体湿法蚀刻中,热磷酸广泛地用于对氮化硅的去除工艺,实践中发现高温下磷酸对氮化硅蚀刻率很难控制。从热磷酸在氮化硅湿法蚀刻中的蚀刻原理出发,分析了影响蚀刻率的各个因素,并通过实验分析了各个因素对蚀刻率的具体影响。根据目...
在半导体湿法蚀刻中,热磷酸广泛地用于对氮化硅的去除工艺,实践中发现高温下磷酸对氮化硅蚀刻率很难控制。从热磷酸在氮化硅湿法蚀刻中的蚀刻原理出发,分析了影响蚀刻率的各个因素,并通过实验分析了各个因素对蚀刻率的具体影响。根据目前广泛应用于生产中的技术,介绍了如何对相关因素进行控制调节,为得到稳定的热磷酸蚀刻率提供了方向。
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关键词
热磷酸
湿法蚀刻
蚀刻率
氮化硅
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职称材料
题名
氮化硅湿法蚀刻中热磷酸的蚀刻率
被引量:
8
1
作者
肖方
汪辉
罗仕洲
机构
上海交通大学微电子学院
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2007年第10期847-850,共4页
基金
国家自然科学基金(NSFC60606015)
上海市浦江人才计划项目(05PJ14068)
文摘
在半导体湿法蚀刻中,热磷酸广泛地用于对氮化硅的去除工艺,实践中发现高温下磷酸对氮化硅蚀刻率很难控制。从热磷酸在氮化硅湿法蚀刻中的蚀刻原理出发,分析了影响蚀刻率的各个因素,并通过实验分析了各个因素对蚀刻率的具体影响。根据目前广泛应用于生产中的技术,介绍了如何对相关因素进行控制调节,为得到稳定的热磷酸蚀刻率提供了方向。
关键词
热磷酸
湿法蚀刻
蚀刻率
氮化硅
Keywords
hot phosphoric acid
wet etching
etch rate
Si3N4
分类号
TN305.7 [电子电信—物理电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
氮化硅湿法蚀刻中热磷酸的蚀刻率
肖方
汪辉
罗仕洲
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2007
8
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