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SDRAM辐照效应测试系统的研制 被引量:2
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作者 姚志斌 张凤祁 +2 位作者 何宝平 罗伊红 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2009年第1期31-35,51,共6页
文章利用CPLD及DSP作为系统的核心部件,设计了最大可测256MB、32位的SDRAM辐照效应在线测试系统。系统可以动态监测辐照期间SDRAM的翻转地址、翻转数等参数,基本满足辐照效应的测试要求。
关键词 SDRAM 辐照效应 测试系统
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