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平面型电力半导体器件击穿电压的优化设计
1
作者
王彩琳
聂代祚
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1997年第6期40-44,共5页
通过对平面型电力半导体器件场限环终端击穿电压的分析,指出了传统设计方法的缺点,提出了一种新的优化设计方法,使器件的体内击穿电压和终端击穿电压达成匹配。
关键词
平面型
电力半导体器件
击穿电压
下载PDF
职称材料
阳极短路GTO制造工艺的研究
2
作者
聂代祚
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1996年第2期33-34,共2页
阳极短路型门极可关断(GTO)晶闸管制造技术的关键工艺是短路区的制作。实验证明,短路区的制作可以用先选择性扩散N+层,然后再扩散镓的方法来实现。通过扩散工艺的精确控制,以调节短路电阻,从而获得电特性的优化。
关键词
GTO
短路区
选择扩散
晶闸管
制造工艺
下载PDF
职称材料
门极可关断晶闸管(GTO)直流放大系数α测试方法的研究
3
作者
田敬民
聂代祚
《电力电子技术》
CSCD
北大核心
1991年第3期59-62,共4页
关键词
晶闸管
可关断晶闸管
测试
下载PDF
职称材料
题名
平面型电力半导体器件击穿电压的优化设计
1
作者
王彩琳
聂代祚
机构
西安电力电子技术研究所
西安理工大学
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1997年第6期40-44,共5页
文摘
通过对平面型电力半导体器件场限环终端击穿电压的分析,指出了传统设计方法的缺点,提出了一种新的优化设计方法,使器件的体内击穿电压和终端击穿电压达成匹配。
关键词
平面型
电力半导体器件
击穿电压
分类号
TN303 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
阳极短路GTO制造工艺的研究
2
作者
聂代祚
机构
西安理工大学
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1996年第2期33-34,共2页
文摘
阳极短路型门极可关断(GTO)晶闸管制造技术的关键工艺是短路区的制作。实验证明,短路区的制作可以用先选择性扩散N+层,然后再扩散镓的方法来实现。通过扩散工艺的精确控制,以调节短路电阻,从而获得电特性的优化。
关键词
GTO
短路区
选择扩散
晶闸管
制造工艺
分类号
TN340.5 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
门极可关断晶闸管(GTO)直流放大系数α测试方法的研究
3
作者
田敬民
聂代祚
出处
《电力电子技术》
CSCD
北大核心
1991年第3期59-62,共4页
关键词
晶闸管
可关断晶闸管
测试
分类号
TN342.407 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
平面型电力半导体器件击穿电压的优化设计
王彩琳
聂代祚
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1997
0
下载PDF
职称材料
2
阳极短路GTO制造工艺的研究
聂代祚
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1996
0
下载PDF
职称材料
3
门极可关断晶闸管(GTO)直流放大系数α测试方法的研究
田敬民
聂代祚
《电力电子技术》
CSCD
北大核心
1991
0
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职称材料
已选择
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