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题名测试仪综述
被引量:12
- 1
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作者
肖展业
杨素行
彭毅
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机构
清华大学自动化系
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出处
《电子工艺技术》
2000年第5期188-190,共3页
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文摘
主要介绍当前用于检测组装后PCB的缺陷和故障的测试仪。以电气接触为手段、以在线测试仪为代表的电气测试仪除了能够测试制造过程的缺陷和故障以外 ,还能够测试PCB的某些电气性能 ,因而得到了广泛的应用。但是 ,电气测试仪将面临高密度PCB和甚高频电路测试的挑战。AOI检测仪和X射线检测仪是近年来发展起来的 ,以非接触方式对PCB进行成象 ,然后进行图象处理来辨别缺陷和故障 ,在高密度PCB和甚高频电路测试中受到欢迎 ,但是不能够测试PCB的电气性能。
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关键词
印制电路板
缺陷
故障
电气测试
测试仪
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Keywords
PCB assembliers
Defects and faults
Virsual inspection
Electrical test
testers
Inspectors
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分类号
TN410.7
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名服务动态部署系统
被引量:2
- 2
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作者
郝俊京
孙义
肖展业
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机构
北京科技大学信息工程学院
中国科学院计算技术研究所国家高性能计算机工程技术中心
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出处
《计算机应用》
CSCD
北大核心
2003年第11期146-148,共3页
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文摘
文中介绍了一种新系统———服务动态部署系统。它通过对传统无盘工作站的改进,使远程客户机在系统启动时,服务器能够动态为其分配不同的操作系统或服务。而且能够根据某台机器已有的环境,服务动态部署系统在数分钟以内复制出该机器环境的"克隆"版本分配给新的用户或者客户机,不必像传统那样每台机器都要重新安装操作系统和各种软件。
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关键词
动态部署
服务
无盘工作站
克隆
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Keywords
dynamic deployment
service
no-hard-disk workstation
clone
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分类号
TP368.5
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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题名单电源CMOS仪表放大器INA155及其应用
- 3
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作者
肖展业
杨素行
彭毅
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机构
清华大学
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出处
《电测与仪表》
北大核心
2000年第4期49-50,26,共3页
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文摘
介绍BB公司最新推出的单电源、轨至轨输出、CMOS仪表放大器INA155的基本原理、使用方法及其应用,该芯片对低电压、单电源运算进行了优化,具有良好的特性指标。
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关键词
仪表放大器
轨至轨输出
单电源
差分源
共模电压
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Keywords
instrumentation amplifier
rail-to-rail output
single-supply
differential source
common-mode voltage
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分类号
TN722
[电子电信—电路与系统]
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题名存储设备
- 4
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作者
张建刚
王克宇
肖展业
范中磊
韩晓明
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机构
中国科学院计算技术研究所
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出处
《科技开发动态》
2004年第4期49-49,共1页
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关键词
存储设备
虚拟
性能
功能
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分类号
TP333
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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题名服务绑定系统及方法
- 5
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作者
许鲁
李宗良
肖展业
于健
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机构
中国科学院计算技术研究所
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出处
《科技开发动态》
2004年第8期46-46,共1页
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关键词
服务绑定系统
可重构计算机
存储服务器
网络存储
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分类号
TP368.5
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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