利用固相烧结法制备了多铁性材料CaMn_7O_(12)多晶块材,断面扫描电子显微镜(SEM)形貌图显示样品的结构致密.以CaMn_7O_(12)多晶块材为靶材,利用磁控溅射方法在Sr Ti O3(STO)基片上制备CaMn_7O_(12)薄膜,XRD的θ-2θ扫描说明在STO(001)和...利用固相烧结法制备了多铁性材料CaMn_7O_(12)多晶块材,断面扫描电子显微镜(SEM)形貌图显示样品的结构致密.以CaMn_7O_(12)多晶块材为靶材,利用磁控溅射方法在Sr Ti O3(STO)基片上制备CaMn_7O_(12)薄膜,XRD的θ-2θ扫描说明在STO(001)和STO(111)基片分别得到了CaMn_7O_(12)(003)薄膜和CaMn_7O_(12)(600)薄膜.原子力显微镜(AFM)扫描的薄膜表面形貌清晰,结合薄膜生长的晶格匹配度,分析CaMn_7O_(12)(003)薄膜和CaMn_7O_(12)(600)薄膜的生长.展开更多
文摘利用固相烧结法制备了多铁性材料CaMn_7O_(12)多晶块材,断面扫描电子显微镜(SEM)形貌图显示样品的结构致密.以CaMn_7O_(12)多晶块材为靶材,利用磁控溅射方法在Sr Ti O3(STO)基片上制备CaMn_7O_(12)薄膜,XRD的θ-2θ扫描说明在STO(001)和STO(111)基片分别得到了CaMn_7O_(12)(003)薄膜和CaMn_7O_(12)(600)薄膜.原子力显微镜(AFM)扫描的薄膜表面形貌清晰,结合薄膜生长的晶格匹配度,分析CaMn_7O_(12)(003)薄膜和CaMn_7O_(12)(600)薄膜的生长.