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题名可测试性设计中的优化问题及求解算法
被引量：4
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作者
胡 政
温熙森
钱彦岭
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机构
国防科技大学机械电子工程与仪器系
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出处
《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
2000年第11期42-44,共3页
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基金
`九五'国防预研重点课题资助
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文摘
近20年来,为了解决结构日益复杂的VLSI电路的测试问题,可测试性设计技术得到了迅速发展.在可测试性设计中,如何针对不同的对象及测试需求进行优化设计,以尽可能降低总体设计代价,是一个非常重要且亟待解决的问题.文章应用图论对可测试性设计中的两种典型优化问题进行了数学描述,并构造了相应的可行求解算法.
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关键词
可测试性设计
优化问题
求解算法
集成电路
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Keywords
： Design－for－testability,Boundary scan,Optimization design design,Topology
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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