军用电磁继电器失效分析研究

军用电磁继电器的可靠性要求极高,任何失效情形必须找出失效原因,进行失效归零。总结了军用电磁继电器的失效分析方法,并对贮存和使用过程中常见的失效模式及失效机理进行分析。针对机械变形、环境应力等影响电磁继电器失效的典型因素及其作用机理进行详细探讨。在此基础上,完成了两个军用电磁继电器失效的实际案例研究。最后,结合失效机理研究提出电磁继电器的可靠性改进措施。

集成电路中的晶化点缺陷分析

晶化点是集成电路金属化工艺中温度过高、合金导电性差的一种征兆,也会导致集成电路出现开路、短路等失效情形。总结了集成电路中晶化点缺陷的形成机理,对产生晶化点的工艺原因进行了探讨,并结合工程案例对晶化点缺陷导致的集成电路失效情形及有关失效机理进行了分析。最后,从工艺上提出若干改进这一缺陷的建议。