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醇类物质对LED硅胶封装气密性的影响
1
作者
文尚胜
彭星
+6 位作者
马丙戌
宋嘉良
符民
方方
胡捷频
康丽娟
孔令豹
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2018年第8期127-132,共6页
为了探究发光二极管(LED)封装胶对LED失效性的影响,选取LED封装硅胶失效案例进行了失效性分析.利用傅里叶转换红外光谱分析和气相色谱质谱联用仪对失效样品进行成分分析,根据分析结果总结样品的失效机理.分析结果表明:LED灯珠封装气密...
为了探究发光二极管(LED)封装胶对LED失效性的影响,选取LED封装硅胶失效案例进行了失效性分析.利用傅里叶转换红外光谱分析和气相色谱质谱联用仪对失效样品进行成分分析,根据分析结果总结样品的失效机理.分析结果表明:LED灯珠封装气密性检测过程中材料的化学不兼容性导致封装胶失效,LED灯珠气密性变差,进而影响到光、电、热、机械结构、材料特性等,LED可靠性降低.在LED生产制造过程中,需要避免材料的不兼容性,增加LED的可靠性.
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关键词
LED
封装硅胶
可靠性
失效
不兼容性
气密性
下载PDF
职称材料
GaN基白光LED可靠性研究与失效分析
被引量:
8
2
作者
宋嘉良
文尚胜
+6 位作者
马丙戌
符民
胡捷频
彭星
方方
廖少雄
康丽娟
《发光学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2018年第12期1705-1713,共9页
针对LED样品检测中的样品短路失效、LED光源黑化、光通量下降和芯片表面通孔异常现象,采用金相切片、机械微操、静电测试等方式结合扫描电镜和能谱仪(EDS)等表征手段对失效机制进行了分析,揭示了LED失效原因。包括镀层银离子与杂质硫离...
针对LED样品检测中的样品短路失效、LED光源黑化、光通量下降和芯片表面通孔异常现象,采用金相切片、机械微操、静电测试等方式结合扫描电镜和能谱仪(EDS)等表征手段对失效机制进行了分析,揭示了LED失效原因。包括镀层银离子与杂质硫离子导致光源黑化;芯片抗静电电压低,部分样品发生静电击穿;失效芯片通孔下面的Ni-Sn共晶层存在大量空洞,使得复杂结构的芯片通孔应力不均,样品工作时芯片表面开裂破碎,从而导致PN结短路失效;封装胶中残存的杂质离子腐蚀芯片负电极导致电极脱落而出现漏电、光衰和死灯等现象。
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关键词
LED
可靠性分析
电极
芯片
封装
下载PDF
职称材料
题名
醇类物质对LED硅胶封装气密性的影响
1
作者
文尚胜
彭星
马丙戌
宋嘉良
符民
方方
胡捷频
康丽娟
孔令豹
机构
华南理工大学发光材料与器件国家重点实验室
复旦大学信息科学与工程学院上海超精密光学制造工程技术研究中心
广东金鉴检测科技有限公司
华南师范大学美术学院
出处
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2018年第8期127-132,共6页
基金
广东省科技计划项目(Nos.2017B010114001
201704030140
+6 种基金
2015B010127004)
广东省应用型科技研发专项(No.2015B010134001)
广州市科技计划项目(Nos.201604040004
201604016010)
广东省扬帆计划(No.2015YT02C093)
中山市科技计划项目(Nos.2016A1009
2017C1011)资助~~
文摘
为了探究发光二极管(LED)封装胶对LED失效性的影响,选取LED封装硅胶失效案例进行了失效性分析.利用傅里叶转换红外光谱分析和气相色谱质谱联用仪对失效样品进行成分分析,根据分析结果总结样品的失效机理.分析结果表明:LED灯珠封装气密性检测过程中材料的化学不兼容性导致封装胶失效,LED灯珠气密性变差,进而影响到光、电、热、机械结构、材料特性等,LED可靠性降低.在LED生产制造过程中,需要避免材料的不兼容性,增加LED的可靠性.
关键词
LED
封装硅胶
可靠性
失效
不兼容性
气密性
Keywords
LED
Silicone packagc
Reliability
Failure
Incompatibility
Gas tightness
分类号
TN383.1 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
GaN基白光LED可靠性研究与失效分析
被引量:
8
2
作者
宋嘉良
文尚胜
马丙戌
符民
胡捷频
彭星
方方
廖少雄
康丽娟
机构
华南理工大学发光材料与器件国家重点实验室
复旦大学上海超精密光学制造工程技术研究中心
广东金鉴检测科技有限公司
广州虎辉照明科技公司
华南师范大学美术学院
出处
《发光学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2018年第12期1705-1713,共9页
基金
广东省科技计划(2017B010114001
201704030140
+6 种基金
2015B010127004)
广东省应用型科技研发专项(2015B010134001)
广州市科技计划(201604040004
201604016010)
广东省扬帆计划(2015YT02C093)
中山市科技计划(2016A1009
2017C1011)资助项目~~
文摘
针对LED样品检测中的样品短路失效、LED光源黑化、光通量下降和芯片表面通孔异常现象,采用金相切片、机械微操、静电测试等方式结合扫描电镜和能谱仪(EDS)等表征手段对失效机制进行了分析,揭示了LED失效原因。包括镀层银离子与杂质硫离子导致光源黑化;芯片抗静电电压低,部分样品发生静电击穿;失效芯片通孔下面的Ni-Sn共晶层存在大量空洞,使得复杂结构的芯片通孔应力不均,样品工作时芯片表面开裂破碎,从而导致PN结短路失效;封装胶中残存的杂质离子腐蚀芯片负电极导致电极脱落而出现漏电、光衰和死灯等现象。
关键词
LED
可靠性分析
电极
芯片
封装
Keywords
light-emitting-diode( LED)
invalid analysis
electrode
chip
encapsulation
分类号
TN312.8 [电子电信—物理电子学]
TN304.2 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
醇类物质对LED硅胶封装气密性的影响
文尚胜
彭星
马丙戌
宋嘉良
符民
方方
胡捷频
康丽娟
孔令豹
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2018
0
下载PDF
职称材料
2
GaN基白光LED可靠性研究与失效分析
宋嘉良
文尚胜
马丙戌
符民
胡捷频
彭星
方方
廖少雄
康丽娟
《发光学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2018
8
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
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