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外延生长Ge_(1-x)Sn_x合金的研究进展
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作者 苏少坚 汪巍 +5 位作者 胡炜玄 张广泽 薛春来 左玉华 成步文 王启明 《材料导报》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第21期90-93,117,共5页
Ge1-xSnx是一种新型的Ⅳ族材料,具有广阔的应用前景,但是其生长存在许多困难,尤其是Sn易于分凝。采用离子轰击和快速变温等方法可以有效地抑制Sn的分凝,但是所生长的材料的热稳定性都比较差。采用化学气相沉积法获得了较高质量的Ge1-xSn... Ge1-xSnx是一种新型的Ⅳ族材料,具有广阔的应用前景,但是其生长存在许多困难,尤其是Sn易于分凝。采用离子轰击和快速变温等方法可以有效地抑制Sn的分凝,但是所生长的材料的热稳定性都比较差。采用化学气相沉积法获得了较高质量的Ge1-xSnx合金,但是所用的Sn气体源难以获得。综述了Ge1-xSnx合金外延生长的研究进展。 展开更多
关键词 Ge1-xSnx 合金 外延 分凝
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Formation of rippled surface morphology during Si/Si(100) epitaxy by ultrahigh vacuum chemical vapour deposition
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作者 胡炜玄 成步文 +2 位作者 薛春来 苏少坚 王启明 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2011年第12期328-334,共7页
The Si epitaxial films are grown on Si (100) substrates using pure Si2H6 as a gas source using ultrahigh vacuum chemical vapour deposition technology. The values of growth temperature Tg are 650 ℃, 700 ℃, 730 ℃, ... The Si epitaxial films are grown on Si (100) substrates using pure Si2H6 as a gas source using ultrahigh vacuum chemical vapour deposition technology. The values of growth temperature Tg are 650 ℃, 700 ℃, 730 ℃, 750 ℃, and 800 ℃. Growth mode changes from island mode to step-flow mode with Tg increasing from 650 ℃ to 700℃. Rippled surface morphologies are observed at Tg = 700 ℃, 730 ℃, and 800℃, but disappear when Tg = 750℃. A model is presented to explain the formation and the disappearance of the ripples by considering the stability of the step-flow growth. 展开更多
关键词 step-bunching Ehrlich-Chwoebel barrier elastic repulsion fluctuation
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Room-temperature direct-bandgap photoluminescence from strain-compensated Ge/SiGe multiple quantum wells on silicon 被引量:1
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作者 Hu Wei-Xuan Cheng Bu-Wen +4 位作者 Xue Chun-Lai Zhang Guang-Ze Su Shao-Jian Zuo Yu-Hua Wang Qi-Ming 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2012年第1期493-498,共6页
Strain-compensated Ge/Si0.15Ge0.85 multiple quantum wells were grown on an Si0.1 Ge0.9 virtual substrate using ultrahigh vacuum chemical vapor deposition technology on an n+-Si(001) substrate. Photoluminescence mea... Strain-compensated Ge/Si0.15Ge0.85 multiple quantum wells were grown on an Si0.1 Ge0.9 virtual substrate using ultrahigh vacuum chemical vapor deposition technology on an n+-Si(001) substrate. Photoluminescence measurements were performed at room temperature, and the quantum confinement effect of the direct-bandgap transitions of a Ge quantum well was observed, which is in good agreement with the calculated results. The luminescence mechanism was discussed by recombination rate analysis and the temperature dependence of the luminescence spectrum. 展开更多
关键词 Ge multiple quantum wells strain compensated
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Remarkable Franz-Keldysh Effect in Ge-on-Si p-i-n Diodes
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作者 LI Ya-Ming HU Wei-Xuan +2 位作者 CHENG Bu-Wen LIU Zhi WANG Qi-Ming 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2012年第3期101-103,共3页
Ge-on-Si p-i-n diodes are fabricated by using two-step Ge film epitaxial technology on Si substrates.A remarkable Franz-Keldysh effect is observed in the wavelength range of 1620-1640nm with a largestΔα/αof 2.8 at ... Ge-on-Si p-i-n diodes are fabricated by using two-step Ge film epitaxial technology on Si substrates.A remarkable Franz-Keldysh effect is observed in the wavelength range of 1620-1640nm with a largestΔα/αof 2.8 at 1640nm by optical responsivity measurement.The remarkable change of absorption coefficient in the considerable large wavelength range makes Ge-on-silicon a promising candidate for Si-based electro-absorption modulators.The initial design predicts a modulator of bandwidth~50 GHz,and the extinction ratio>7dB by the measured parameter. 展开更多
关键词 MEASUREMENT PARAMETER MODULATOR
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硅基室温电流注入Ge/Si异质结发光二极管
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作者 胡炜玄 成步文 +6 位作者 薛春来 薛海韵 苏少坚 白安琪 罗丽萍 俞育德 王启明 《激光与光电子学进展》 CSCD 北大核心 2010年第3期14-14,共1页
目前,硅基光电集成所需的各个光子学单元已经取得了巨大的突破,并且与现有的微电子工艺完全兼容:硅基光波导在光通讯波段可以实现对光场的强限制以及低损耗传输;通过外延高质量的锗薄膜,实现了近红外波段的高速高量子效率的硅基光... 目前,硅基光电集成所需的各个光子学单元已经取得了巨大的突破,并且与现有的微电子工艺完全兼容:硅基光波导在光通讯波段可以实现对光场的强限制以及低损耗传输;通过外延高质量的锗薄膜,实现了近红外波段的高速高量子效率的硅基光探测器;调制速率高达30GHz的基于硅基载流子等离子体色散效应的硅调制器也已经有报导。 展开更多
关键词 发光二极管 硅基 电流注入 异质结 近红外波段 Si Ge 室温
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Si(001)衬底上分子束外延生长Ge_(0.975)Sn_(0.025)合金薄膜 被引量:5
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作者 苏少坚 汪巍 +6 位作者 张广泽 胡炜玄 白安琪 薛春来 左玉华 成步文 王启明 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2011年第2期707-711,共5页
使用低、高温两步法生长的高质量Ge薄膜作为缓冲层,在Si(001)衬底上采用分子束外延法生长出Ge0.975Sn0.025合金薄膜.X射线双晶衍射和卢瑟福背散射谱等测试结果表明,Ge0.975Sn0.025合金薄膜具有很好的晶体质量,并且没有发生Sn表面分凝.另... 使用低、高温两步法生长的高质量Ge薄膜作为缓冲层,在Si(001)衬底上采用分子束外延法生长出Ge0.975Sn0.025合金薄膜.X射线双晶衍射和卢瑟福背散射谱等测试结果表明,Ge0.975Sn0.025合金薄膜具有很好的晶体质量,并且没有发生Sn表面分凝.另外,Ge0.975Sn0.025合金薄膜在500℃下具有很好的热稳定性,有望在Si基光电器件中得到应用. 展开更多
关键词 GeSn Ge 分子束外延 外延生长
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用PAA模板法实现硅基纳米孔阵列结构 被引量:2
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作者 白安琪 胡迪 +7 位作者 丁武昌 苏少坚 胡炜玄 薛春来 樊中朝 成步文 俞育德 王启明 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2009年第7期4997-5001,共5页
用二次阳极氧化方法制备出分立、双向贯通并且超薄(500—1000 nm)的多孔阳极氧化铝膜,贴合到硅片上进行干法刻蚀,实现图形转移,得到了硅基纳米孔阵列结构,并对工艺中影响图形转移质量的因素进行了探索.扫描电镜(SEM)测试结果表明该途径... 用二次阳极氧化方法制备出分立、双向贯通并且超薄(500—1000 nm)的多孔阳极氧化铝膜,贴合到硅片上进行干法刻蚀,实现图形转移,得到了硅基纳米孔阵列结构,并对工艺中影响图形转移质量的因素进行了探索.扫描电镜(SEM)测试结果表明该途径得到的纳米结构孔形态均匀且大面积有序,孔深度可达到125 nm.对该样品进行热氧化处理后进行光致发光(PL)测试,结果表明其光致发光机理是基于通常较微弱的TO声子辅助的硅带边发光,并实现了显著发光增强,对这种增强效果的物理机理进行了理论分析.该结构具有的独特光学特性为利用这一途径改变硅的弱发光性质,乃至实现硅基高效发光带来曙光. 展开更多
关键词 多孔阳极氧化铝模板 硅基纳米孔阵列结构 图形转移
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