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多层多孔硅的SPM研究
1
作者
胡舜涛
杨建树
+3 位作者
袁帅
蔡群
董树忠
侯晓远
《电子显微学报》
CAS
CSCD
1999年第1期72-75,共4页
多层多孔硅是采用交替变化脉冲腐蚀电流密度的方法制成的多孔度周期性变化的多孔硅结构,我们用AFM对多层多孔硅结构的侧向解理的截面进行观测,得到了不同多孔度层及其界面处的图像。发现不同周期中相同条件下腐蚀得到的多孔硅层,...
多层多孔硅是采用交替变化脉冲腐蚀电流密度的方法制成的多孔度周期性变化的多孔硅结构,我们用AFM对多层多孔硅结构的侧向解理的截面进行观测,得到了不同多孔度层及其界面处的图像。发现不同周期中相同条件下腐蚀得到的多孔硅层,其层厚随周期的不同而不同,从而限制了多孔硅发光峰半宽的缩小。对多层多孔硅的电化学腐蚀机理作了初步的探讨。
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关键词
原子力显微镜
多层
多孔硅
多层结构
SPM
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职称材料
题名
多层多孔硅的SPM研究
1
作者
胡舜涛
杨建树
袁帅
蔡群
董树忠
侯晓远
机构
复旦大学应用表面物理国家重点实验室
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
1999年第1期72-75,共4页
文摘
多层多孔硅是采用交替变化脉冲腐蚀电流密度的方法制成的多孔度周期性变化的多孔硅结构,我们用AFM对多层多孔硅结构的侧向解理的截面进行观测,得到了不同多孔度层及其界面处的图像。发现不同周期中相同条件下腐蚀得到的多孔硅层,其层厚随周期的不同而不同,从而限制了多孔硅发光峰半宽的缩小。对多层多孔硅的电化学腐蚀机理作了初步的探讨。
关键词
原子力显微镜
多层
多孔硅
多层结构
SPM
Keywords
AFM
multilayer porous silicon
multilayer structure
分类号
TN204 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
多层多孔硅的SPM研究
胡舜涛
杨建树
袁帅
蔡群
董树忠
侯晓远
《电子显微学报》
CAS
CSCD
1999
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