分离基体ICP-AES法测定高纯钽及其氧化物中杂质元素

为了解决高纯钽及其氧化物中杂质元素的测定问题 ,采用ICP AES测定方法 ,对测定中基体效应及光谱干扰进行了研究 ,讨论了分离速率、洗脱液量及其浓度等因素对基体分离效果和杂质元素回收率的影响 ,建立了简便、快速、准确测定高纯钽及其氧化物中杂质元素的新方法 .研究结果表明 :用该法测定高纯Ta2 O5 中 1 2种杂质元素回收率在 90 %～ 1 1 0 %之间 ,相对标准偏差小于 8 1 5 % .其准确度及精密度均较好 。

一种新的质谱分类变量及在饱和醇醚中的应用

子结构模式识别一直是低分辨率质谱中的难点问题,为提供更多的分类信息,达到更好的识别和分类效果,将质谱图中被脱去碎片的信息,通过峰簇运算的方法提取出来,建立了一种新的质谱分类变量:FM(Fractional Mass)。联合块变量正交化和典型相关分析方法,以饱和醇醚的模式识别模型对变量进行了验证。结果表明,分类效果较好,无论是总体的模型还是交互检验,预测误差率都在2.5%以下,FM变量是传统分类变量的有益补充。