脉冲激光沉积法制备Ge-Se-Bi硫系玻璃薄膜的结构(英文)

采用脉冲激光沉积法制备了(GeSe2)100-x-Bix(x=0~12)硫系玻璃薄膜。测量了薄膜的光学透射谱、吸收谱和拉曼光谱。薄膜的光学短波吸收边对应于电子的间接带间跃迁,并由此计算出其光学带隙。拉曼光谱分析表明Bi含量的增加,减小了玻璃的平均键能,导致光学带隙由1.94 eV减小到1.11 eV。Tauc斜率由486 cm-1/2eV-1/2减小到178 cm-1/2eV-1/2。退火过程中的热漂白效应减小了玻璃的结构无序性,使得薄膜的光学带隙和Tauc斜率相应增大。

全光开关用硫系玻璃研究进展

随着人类社会步入高速信息时代,高速的通讯信息系统对材料性能提出了更高要求。详细分析了全光开关器件对非线性光学材料性能的要求,综述了硫系玻璃作为全光开关器件用材料性能方面的优势,并总结了近年来人们对硫系玻璃在全光开关应用方面的研究成果。