NBTI机制下运算放大器的性能退化分析及其可靠性设计

随着CMOS器件尺寸的不断缩小,集成电路设计阶段的可靠性问题变得愈加重要,NBTI效应作为重要的可靠性问题之一得到了大量的研究,并从电路级对其提出了改进。采用等效电路模型表征NBTI退化对模拟电路的影响,研究了两级运算放大器在NBTI效应影响下电路参数的退化,分析并确定了影响传统两级运算放大器性能的关键器件。在此基础上,对传统运放结构进行改进,引入反馈,使-3 d B带宽的退化量由27%降到了1%左右,从而减小NBTI退化对电路性能的影响。

全反射氧化锗空芯光纤弹性弯曲半径的计算与验证

金属的塑性形变特性使金属毛细管空芯光纤在激光传输过程中容易产生不可逆塑性形变,依据金属管材的弹塑性弯曲理论和液相沉积金属毛细管氧化锗(GeO2)空芯光纤的工艺要求,本文对铍铜和不锈钢毛细管GeO2全反射空芯光纤的弹性弯曲半径进行了计算并通过实验验证。结果表明,铍铜和不锈钢空芯光纤的最小弹性弯曲半径的计算值与实验值相吻合。