基于结构色的SEM图像特征分析及其等效折射率计算方法研究

获取精确等效折射率对研究胶粒结构呈色具有重要意义.在此目的下,本文提出了一种研究扫描电镜(SEM)二维图像中各胶粒微观形态的特征计算方法.通过标记并统计不同胶粒的图像面积比,来计算SEM图像中各不同成分对象对应的填充率,最后计算出等效折射率.将已有文献中类似物质的等效折射率数据和本方法求出的等效折射率作对比,发现本方法计算的聚苯乙烯薄膜有效折射率随烧制温度变化而引起的变化范围在1.42~1.46之间,而文献中等效折射率一般采用固定值1.46;此外,结合结构呈色实验数据进行分析计算,发现结构呈色实验值与本方法计算值更接近,说明本方法技术手段可行.