Ku/Ka/W三频段单馈源反射面天线设计

为了简化多频段反射面天线的整体结构与体积,设计一个结构简单的三频段馈源,采用单腔体的形式而非复杂的共轴嵌套式或填充介质等方法,以此来精简整个馈源的设计与加工。为了在Ku/Ka两个相近低频段获得较好的隔离度,分别设计了两个低通的三阶滤波器。使用ANSYS HFSS电磁仿真软件进行Ku/Ka/W三频段单馈源反射面天线设计和优化分析。实际测量时,馈源三个端口的S参数采用矢量网络分析仪测得,馈源及反射面天线系统的增益则在暗室中测量得到。天线仿真设计和实测结果表明,在Ku/Ka/W三个常用频段,即14.5~15.5 GHz、34.5~35.5 GHz及93~95 GHz频率范围内,天线的电压驻波比均小于1.3,各个端口隔离度优于40 dB,具有代表性的三个中心频率点14.5 GHz、35 GHz、94 GHz的天线增益分别为30.5 dBi、34.6 dBi和39.7 dBi,交叉极化优于-23.9 dB,旁瓣电平优于-21.6 dB。所设计的反射面天线实现了频段跨度接近6.5∶1的Ku/Ka/W三频段特性。

面向系统可靠性保障的软件配置错误诊断仿真

为提高软件服务质量,满足系统的可靠性及高度可定制性要求,提出面向系统可靠性保障的软件配置错误诊断方法。以组件模块间可靠性为前提,结合系统对软件配置的要求,生成软件配置间的关联性,确定配置项值匹配与配置类型,根据相应诊断规则判断软件各节点输出的关系流是否存在错误,完成诊断全过程。实验表明,所提方法能够依据系统软件部分的各项参数诊断软件配置,且诊断结果与实际情况一致,检出率高,能够满足系统的实际应用需求。

基于SOI的微电子器件抗辐射加固技术

近年来,我国航天事业取得了令世人瞩目的成就,越来越多的人造卫星被发射于太空中,从而为人们的生产生活带来了巨大的便利。对于人造卫星来说,由于其受到太空的强烈辐射的影响,致使其内部微电子器件的硅层与二氧化硅层会产生电离,并进一步引发瞬时效应与闭锁效应,进而大大降低了人造卫星的运行可靠性。因此必须要通过SOI工艺来对微电子器件进行抗辐射加固,为此,本文便对基于SOI的微电子器件抗辐射加固技术进行深入的探讨与研究。