电荷泵锁相环的全数字DFT测试法

以电荷泵锁相环为对象,提出了针对电荷泵锁相环各个模块的不同测试方法,着重论述了如何在一个完整的测试方案中把不同的测试方法结合起来——即采用电荷泵锁相环的全数字可测试性设计(D F T )法。这种测试方法简单、成本较低,具有较高的开发价值。

基于瞬时无功功率的改进型谐波电流检测法

为了改善传统的有源电力滤波器(APF)的快速检测和实时补偿性能,提出了一种基于瞬时无功功率理论的改进型ip、iq检测法。该方法通过建模和分析,用简单的积分、延时和增益环节代替传统的低通滤波器,将检测方法总延时从1个电源周期减少到1/6个电源周期。该方法还可推广应用到单相电路、三相四线制和三相不平衡负载等场合。运用MATLAB软件进行仿真的结果表明:该方法在电网电压对称有畸变或对称无畸变时都能跟踪谐波,准确检测出谐波和无功电流,并可将每个电源周期的检测方法总延时从0.02s减少到约0.0033s,从而验证了该方法满足电力系统中APF的实时测量要求。

限散射角电子束光刻技术及其应用前景

在下一代光刻(NGL)技术中,限散射角电子束光刻(SCALPEL)技术工艺简单、成本较低,因此是集成电路生产厂家首选的光刻方案之一。本文论述了SCALPEL的工作原理、加工工艺和方法、SCALPEL系统等,并对比分析了SCALPEL在NGL研发中的技术优势及其应用要点。

几种CMOS VLSI的低功耗BIST技术

在分析全扫描内建自测试(BIST)较高测试功耗的基础上,总结出几种SMOS VLSI的低功耗BIST技术方案,包括减少待测电路(CUT)输入端的翻转次数、简化线性反馈移位寄存器(LFSR) 结构、部分扫描低功耗BIST方法等。分析结果表明,这些方法不但在保证测试覆盖率的条件下,降低了测试平均功耗和峰值功耗,而且综合应用这几种方法将会使系统功耗指标达到最佳。

深亚微米/纳米CMOS器件离子蚀刻新技术

综述了制备深亚微米/纳米CMOS器件的离子蚀刻新技术:考夫曼(Kaufman)离子铣蚀刻、氟基气体多晶硅蚀刻、氯基或溴基气体硅深蚀刻、电子回旋共振(ECR)蚀刻系统和电感耦合等离子体蚀刻器(ICPE)等,并对比分析了上述蚀刻技术各自的优缺点及其应用要点。

单片机在农网无功补偿中的应用

农网中,在一定的有功功率下,当用户功率因数较小时,为了满足用电的需要,便增大供电线路和变压器的容量。这样不仅增加投资,降低设备利用率,也将增加线路的电能损失。为此,在提高用电单位自然功率因数的基础上,装置无功补偿电容器组,对无功功率进行补偿。为此,运用瞬时无功功率理论并采用8051单片机控制系统,根据“先投先切”的原则,实现了对农网投切补偿电容器组的自动控制。