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基于时域相移技术的结构光三维微纳形貌检测方法
被引量:
1
1
作者
范松如
范朦
+1 位作者
陈冬晖
赵青
《光电工程》
CAS
CSCD
北大核心
2021年第4期85-90,共6页
针对微纳器件三维形貌快速检测及重构中的高精度和高速度难以兼得的技术难题,本文提出一种基于时域相移技术的结构光检测方法,通过空间光调制器对测量光进行调制,结合时域相移技术实现微纳器件三维形貌检测和重构。相比传统的结构光检...
针对微纳器件三维形貌快速检测及重构中的高精度和高速度难以兼得的技术难题,本文提出一种基于时域相移技术的结构光检测方法,通过空间光调制器对测量光进行调制,结合时域相移技术实现微纳器件三维形貌检测和重构。相比传统的结构光检测方法,本技术在样片轴向扫描的同时,利用空间光调制器进行相移测量,保证测量精度的同时提高测量的效率。通过对测量数据进行分析,该方法可快速实现三维形貌检测和重构,测量精度可优于10 nm。
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关键词
形貌检测
微纳检测
相移技术
结构光
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职称材料
题名
基于时域相移技术的结构光三维微纳形貌检测方法
被引量:
1
1
作者
范松如
范朦
陈冬晖
赵青
机构
四川欧瑞特光电科技有限公司
北京北方光电有限公司
电子科技大学资源与环境学院
出处
《光电工程》
CAS
CSCD
北大核心
2021年第4期85-90,共6页
文摘
针对微纳器件三维形貌快速检测及重构中的高精度和高速度难以兼得的技术难题,本文提出一种基于时域相移技术的结构光检测方法,通过空间光调制器对测量光进行调制,结合时域相移技术实现微纳器件三维形貌检测和重构。相比传统的结构光检测方法,本技术在样片轴向扫描的同时,利用空间光调制器进行相移测量,保证测量精度的同时提高测量的效率。通过对测量数据进行分析,该方法可快速实现三维形貌检测和重构,测量精度可优于10 nm。
关键词
形貌检测
微纳检测
相移技术
结构光
Keywords
profile measurement
micro/nano measurement
phase-shift
structured illumination
分类号
O436.1 [机械工程—光学工程]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于时域相移技术的结构光三维微纳形貌检测方法
范松如
范朦
陈冬晖
赵青
《光电工程》
CAS
CSCD
北大核心
2021
1
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