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LT286E4型晶体管失效案例分析
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作者 安连涛 范桂洋 《微处理机》 2012年第4期23-24,共2页
通过晶体管上铝布线热熔的案例,详细介绍了失效分析过程,揭示了导致铝布线热熔的主要原因,为避免出现类似问题提供了改进的依据。
关键词 晶体管 失效分析 可靠性
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