大尺寸液晶显示屏MURA不良电学补偿研究

由于设备工艺的原因,高世代线大尺寸液晶显示屏Mura的不良发生率较高。Mura不良在显示上主要表现为局部灰度差异,理论上可通过提高或降低不良区域的灰阶值减轻不良现象。本文主要针对Mura不良电学补偿的研究,阐述一种Mura不良修复方法的原理,修复系统的构成。在实际生产中可有效降低Mura不良率,提高产品品质,增加公司效益。

TDDI产品Touch Open NG机理研究

从电容式触控屏的原理出发,讲述了自容式和互容式Touch检测机理;结合TDDI IC AFE模块工作原理,得出了TDDI产品Touch功能测试NG的机理,并给出问题的解决方案。引言:触控屏已成为智能手机和平板电脑的标配,尽管对于怎样将触控和显示功能纳入触控屏,现在有很多不同技术可用,不过在主流移动市场上,将触控与显示驱动集成(Touch Display Driver Integration)的一体化趋势已经明朗(屏幕里的黑科技,TDDI技术能为手机带来什么改变:电脑爱好者,2016)。该项技术(TDDI)最大的特点是将触控IC与显示IC整合进单一芯片中,达到设计简化、成本降低、运行噪声下降的目的,同时与In-Cell技术搭配,实现更薄、更智能的设备。

大尺寸TFT-LCD TV模组工艺COF IC烧毁不良分析及改善

在大尺寸LCD TV产品生产过程中,频繁出现COF IC烧毁情况,影响模组良率及产品品质。本文针对大尺寸产品因COF IC烧毁原因引起画面显示异常情况进行机理分析并针对性改善,为实际生产提供指导意义。前言:薄膜晶体管液晶显示器(TFTLCD)为目前的主流平板显示器(TFT-LCD光致发绿不良改善、机理分析及研究:液晶与显示,2019),在电视应用中取代CRT成为主流技术(大尺寸TFT-LCD电视的彩色和图像增强:现代显示,2006)。