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a-Si:H和a-SiN_x:H薄膜中的缺陷以及载流子的非辐射复合
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作者 王志超 滕敏康 +2 位作者 张淑仪 葛网大 邱树业 《物理学报》 SCIE EI CAS 1988年第8期1291-1297,共7页
应用红外光谱仪、分光光度计、光声谱仪和正电子湮没寿命谱仪,从不同的角度,研究a-Si:H和a-SiN_x:H薄膜中的成分、缺陷以及光生载流子的非辐射复合。
关键词 非辐射复合 光生载流子 缺陷密度 a-SiN_x A-SI Si
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