集成电路测试系统延迟线性能分析

延迟线是集成电路测试系统的关键部件。本文介绍了模拟式延迟线的性能和原理 ,分析了模拟式延迟线由于干扰 ,温漂等因素的影响 ,定时分辨率很高但定时精度难以提高的情况。最后指出延迟线的集成是大势所趋 ,立足CMOS工艺的数字延迟线必将成为未来测试系统集成化的发展方向。

“电子测试”的新视角

选择一个具有广泛代表性的热点产品。从广大最终用户的视角,通过测试去评价这个产品,是一个非常实际而有意义的事。这使《电子测试》走向一条新路:深入到现实中去,深入到广大的最终用户中去,深入到人们的生活中去。飞速发展的PC,从实验室走进应用单位,从应用单位走向社会,从社会进入家庭。

永执牛耳——访美国泰克公司DAVE CORESON先生

美国泰克(Tektronix)公司始建于1946年,起家产品是电子示波器。五十多年来,始终执示波器之牛耳,被誉为示波器大王。

信息时代的自测试设备

1.前言 过去属于未来学研究课题的信息时代已经使人们日渐清晰地感到了它的到来。信息时代的美好前景,对科技先进国家来说已不再是未来。 自动化是信息时代的一大表征。信息离不开自动化,自动化离不开信息,没有自动化也不会有信息时代。

快步进入VXI时代

论述VXI技术的发展规律,分析VXI与信息时代的关系,提出加速发展中国VXI产业的必要性。

信息时代的自动测试设备

1 前言过去属于未来学研究课题的信息时代已经使人们日渐清晰地感到了它的到来。信息时代的美好前景,对科技先进国家来说已不再是未来。自动化是信息时代的一大表征。信息离不开自动化,自动化离不开信息,没有自动化也不会有信息时代。