红外测厚技术在超薄薄膜和多层共挤薄膜生产线上的应用

由于传统的贝它（Beat）技术、伽玛（Gamma）技术和X射线（X—ray）技术，在测量超薄薄膜厚度时技术不完善，更无法测量多层共挤材料中阻隔层的厚度。NDC近红外技术利用不同材料对近红外光具有不同吸收波长的原理，可测量多层共挤材料每一层的厚度；NDC近红外专利技术抑制了光学条纹干涉（OFI）的影响，能高精度、高分辨率、无任何放射性地测量超薄薄膜的厚度。

红外测厚技术在超薄薄膜和多层共挤薄膜生产线上的应用

由于传统的贝它(Beat)技术、伽玛(Gamma)技术和X射线(X-ray)技术，在测量超薄薄膜厚度时技术不完善，更无法测量多层共挤材料中阻隅层的厚度。NDC近红外技术利用不同材料对近纪外光具有不同吸收波长的原理，可测量多层共挤材料每一层的厚度；NDC近红外专利扳术抑制了光学条纹干涉(OFI)的影响，能高精度、高分辨室、无任何放射性地测量超薄薄膜的厚度。