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开关电路在微机械加速度计中的应用
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作者 谭晓昀 熊俊 +3 位作者 蓝幕杰 赵辉 刘楠 刘晓为 《传感器技术》 CSCD 北大核心 2005年第11期73-75,共3页
介绍了一种用于差分电容检测前置电路的开关电路,该电路使信号易于解调而能简化信号处理电路.阐述了电路的工作原理及相关特性,在250 kHz的载波频率下,给出了Hspice仿真结果及其具体在微机械加速度计中的应用.实际结果表明:样品的灵敏度... 介绍了一种用于差分电容检测前置电路的开关电路,该电路使信号易于解调而能简化信号处理电路.阐述了电路的工作原理及相关特性,在250 kHz的载波频率下,给出了Hspice仿真结果及其具体在微机械加速度计中的应用.实际结果表明:样品的灵敏度为16~25 mV/gn,非线性为0.1 %~0.5 %,满足技术要求. 展开更多
关键词 开关电路 差分电容检测 前置电路 信号处理 加速度计
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非晶态Se薄膜晶化过程中微裂纹产生的研究
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作者 叶水驰 鲍海飞 +1 位作者 蓝幕杰 王骐 《材料科学与工艺》 EI CAS CSCD 1998年第3期77-80,共4页
薄膜在热处理过程中存在微观结构的变化。利用光学显微镜对非晶态Se薄膜在晶化过程中微裂纹的产生做了详细的分析和研究;利用位形坐标解释了非晶薄膜室温下转变的原因。并对三层结构的SiO/Se/SiO的晶化做了进一步研究。结... 薄膜在热处理过程中存在微观结构的变化。利用光学显微镜对非晶态Se薄膜在晶化过程中微裂纹的产生做了详细的分析和研究;利用位形坐标解释了非晶薄膜室温下转变的原因。并对三层结构的SiO/Se/SiO的晶化做了进一步研究。结果表明微裂纹的产生与晶化过程中原子重新排序、原子迁移导致晶界的产生和体积收缩产生的应力有关,裂纹的产生还同薄膜与衬底间的热失配有关。 展开更多
关键词 微裂纹 位形坐标晶化 非晶态 薄膜 晶化
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