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开关电路在微机械加速度计中的应用
1
作者
谭晓昀
熊俊
+3 位作者
蓝幕杰
赵辉
刘楠
刘晓为
《传感器技术》
CSCD
北大核心
2005年第11期73-75,共3页
介绍了一种用于差分电容检测前置电路的开关电路,该电路使信号易于解调而能简化信号处理电路.阐述了电路的工作原理及相关特性,在250 kHz的载波频率下,给出了Hspice仿真结果及其具体在微机械加速度计中的应用.实际结果表明:样品的灵敏度...
介绍了一种用于差分电容检测前置电路的开关电路,该电路使信号易于解调而能简化信号处理电路.阐述了电路的工作原理及相关特性,在250 kHz的载波频率下,给出了Hspice仿真结果及其具体在微机械加速度计中的应用.实际结果表明:样品的灵敏度为16~25 mV/gn,非线性为0.1 %~0.5 %,满足技术要求.
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关键词
开关电路
差分电容检测
前置电路
信号处理
加速度计
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职称材料
非晶态Se薄膜晶化过程中微裂纹产生的研究
2
作者
叶水驰
鲍海飞
+1 位作者
蓝幕杰
王骐
《材料科学与工艺》
EI
CAS
CSCD
1998年第3期77-80,共4页
薄膜在热处理过程中存在微观结构的变化。利用光学显微镜对非晶态Se薄膜在晶化过程中微裂纹的产生做了详细的分析和研究;利用位形坐标解释了非晶薄膜室温下转变的原因。并对三层结构的SiO/Se/SiO的晶化做了进一步研究。结...
薄膜在热处理过程中存在微观结构的变化。利用光学显微镜对非晶态Se薄膜在晶化过程中微裂纹的产生做了详细的分析和研究;利用位形坐标解释了非晶薄膜室温下转变的原因。并对三层结构的SiO/Se/SiO的晶化做了进一步研究。结果表明微裂纹的产生与晶化过程中原子重新排序、原子迁移导致晶界的产生和体积收缩产生的应力有关,裂纹的产生还同薄膜与衬底间的热失配有关。
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关键词
微裂纹
位形坐标晶化
非晶态
薄膜
晶化
硒
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职称材料
题名
开关电路在微机械加速度计中的应用
1
作者
谭晓昀
熊俊
蓝幕杰
赵辉
刘楠
刘晓为
机构
哈尔滨工业大学MEMS中心
出处
《传感器技术》
CSCD
北大核心
2005年第11期73-75,共3页
文摘
介绍了一种用于差分电容检测前置电路的开关电路,该电路使信号易于解调而能简化信号处理电路.阐述了电路的工作原理及相关特性,在250 kHz的载波频率下,给出了Hspice仿真结果及其具体在微机械加速度计中的应用.实际结果表明:样品的灵敏度为16~25 mV/gn,非线性为0.1 %~0.5 %,满足技术要求.
关键词
开关电路
差分电容检测
前置电路
信号处理
加速度计
Keywords
switched circuit
differential capacitance detection
pre-circuit
signal processing
accelerometer
分类号
TN43 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
非晶态Se薄膜晶化过程中微裂纹产生的研究
2
作者
叶水驰
鲍海飞
蓝幕杰
王骐
机构
哈尔滨工业大学航天电子与光电工程系
出处
《材料科学与工艺》
EI
CAS
CSCD
1998年第3期77-80,共4页
文摘
薄膜在热处理过程中存在微观结构的变化。利用光学显微镜对非晶态Se薄膜在晶化过程中微裂纹的产生做了详细的分析和研究;利用位形坐标解释了非晶薄膜室温下转变的原因。并对三层结构的SiO/Se/SiO的晶化做了进一步研究。结果表明微裂纹的产生与晶化过程中原子重新排序、原子迁移导致晶界的产生和体积收缩产生的应力有关,裂纹的产生还同薄膜与衬底间的热失配有关。
关键词
微裂纹
位形坐标晶化
非晶态
薄膜
晶化
硒
Keywords
Se thin film
micro-cracking
configurational coordination
crystallization
分类号
TN304.130 [电子电信—物理电子学]
TN304.055 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
开关电路在微机械加速度计中的应用
谭晓昀
熊俊
蓝幕杰
赵辉
刘楠
刘晓为
《传感器技术》
CSCD
北大核心
2005
0
下载PDF
职称材料
2
非晶态Se薄膜晶化过程中微裂纹产生的研究
叶水驰
鲍海飞
蓝幕杰
王骐
《材料科学与工艺》
EI
CAS
CSCD
1998
0
下载PDF
职称材料
已选择
0
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参考文献
引证文献
统计分析
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