加强化学化工实验教学示范中心建设促进创新型人才培养

合肥工业大学化学化工实验教学示范中心通过加大软硬件设施投入、推进教学内容和模式创新、深化管理体制改革等措施,建立了多个实验和实践教学平台,构建了一套完整的实践创新教学体系,促进了教育资源整合与共享,并在培养学生工程实践创新能力方面取得了良好成效。

TFT-LCD面板成盒后Data Open不良维修方法研究

高世代线TFT-LCD面板制造过程中无法避免Data Open不良的产生,为了提高产品良率,提升出货品质,在针对该不良源头改善的同时,需对已检出的不良进行维修。对此本文综述了液晶显示面板成盒后Data Open不良对应激光维修方法和原理,并详细分类和阐述了不良分别位于1/1 Matrix和1/3 Matrix设计产品中不同位置时的维修方法。1.引言随着薄膜晶体管液晶显示器(thin film transistor-liquid crystaldisplay,TFT-LCD)制备技术(李继军,平板显示技术比较及研究进展:中国光学,2018)的不断革新,以及客户对大尺寸,高分辨率,高刷新频率的不断需求,面板产品逐步向高世代线发展。

ITO区黑化法修复亮点理论模型及工艺参数分析

本文基于飞秒激光烧蚀机制建立并通过实验验证了ITO区黑化法修复亮点的理论模型,分析了各个工艺参数对修复效果的影响,为亮点不良修复成功率的提升奠定基础。首先通过一系列实验点灯检测、显微镜图片和聚焦离子束(FIB)图片分析结果验证了所创建的修复理论模型;然后利用对比试验分别探究了单脉冲激光单位面积的能量密度e、扫描速度v、激光频率f和光斑大小a等工艺参数对ITO区黑化效果的影响;最后为了深入分析ITO区黑化法的烧蚀机理,提出并验证了囊括所有工艺参数的变量“w”,成功地为亮点不良修复成功率的提升提供了理论依据。实验结果表明,a在4.0~10.0μm,e在1.0 mJ/mm2以上,w在4250~12500 mJ/mm2时,ITO烧蚀后的黑化效果均达到了暗点标准(≥95%),且在点灯条件下未产生其他不良。根据实验结果,将该理论模型和工艺参数分析应用到量产,亮点不良修复成功率达到了95.5%。

基于Goodix软件检测On-Cell模式液晶屏触控失效研究

触控液晶屏目前已经覆盖各型号手机、平板产品,而在触控液晶屏生产检测过程中,一直都存在触控失效的情况,为了更好的提高触控液晶屏的产出和良率,需要有效分析检测过程中触控失效的原因,该检测过程基于对应的芯片及测试软件。对此本文综述了关于On cell触控结构,在Goodix(汇顶科技公司)芯片/软件下报出的各项触控失效原因分析。