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大规模集成电路动态老化测试台图形发生系统设计 被引量:1
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作者 王新中 冉立新 +2 位作者 卜建明 蔡晓恺 曹骥 《微电子测试》 1995年第2期33-36,共4页
本文论述了大规模集成电路动态老化测试台COWWS—12000图形发生系统设计。系统采用了微机集中控制各路独立编程方式,具有结构简单、通用性强等特点。
关键词 LSI 集成电路 动态老化 测试台 图形发生系统
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