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大规模集成电路动态老化测试台图形发生系统设计
被引量:
1
1
作者
王新中
冉立新
+2 位作者
卜建明
蔡晓恺
曹骥
《微电子测试》
1995年第2期33-36,共4页
本文论述了大规模集成电路动态老化测试台COWWS—12000图形发生系统设计。系统采用了微机集中控制各路独立编程方式,具有结构简单、通用性强等特点。
关键词
LSI
集成电路
动态老化
测试台
图形发生系统
下载PDF
职称材料
题名
大规模集成电路动态老化测试台图形发生系统设计
被引量:
1
1
作者
王新中
冉立新
卜建明
蔡晓恺
曹骥
机构
浙江大学信电系
杭州可靠性设备厂
出处
《微电子测试》
1995年第2期33-36,共4页
文摘
本文论述了大规模集成电路动态老化测试台COWWS—12000图形发生系统设计。系统采用了微机集中控制各路独立编程方式,具有结构简单、通用性强等特点。
关键词
LSI
集成电路
动态老化
测试台
图形发生系统
分类号
TN470.7 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
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作者
出处
发文年
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1
大规模集成电路动态老化测试台图形发生系统设计
王新中
冉立新
卜建明
蔡晓恺
曹骥
《微电子测试》
1995
1
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