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夜间135.6 nm气辉反演的电离层f_(0)F_(2)与测高仪观测比较研究
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作者 薛仕翔 姜春华 +5 位作者 马征征 徐彬 丁广兴 杨国斌 张援农 赵正予 《空间科学学报》 CAS CSCD 北大核心 2023年第3期456-465,共10页
在夜间电离层,气辉135.6 nm谱线主要由F层的O^(+)和电子的辐射复合过程以及O^(+)和O^(-)的中性复合过程激发,该谱线强度和电离层峰值电子密度N_(m)F_(2)存在很强的相关性。利用夜气辉135.6 nm辐射强度与F_(2)层峰值电子密度N_(m)F_(2)... 在夜间电离层,气辉135.6 nm谱线主要由F层的O^(+)和电子的辐射复合过程以及O^(+)和O^(-)的中性复合过程激发,该谱线强度和电离层峰值电子密度N_(m)F_(2)存在很强的相关性。利用夜气辉135.6 nm辐射强度与F_(2)层峰值电子密度N_(m)F_(2)的平方成正比的物理模型,建立了在不同经纬度、地方时、季节和太阳活动下均适用的反演算法。通过DMSP卫星上搭载的紫外光谱成像仪(SSUSI)实际观测的135.6 nm气辉辐射强度来反演相应时空的电离层F_(2)层临界频率f_(0)F_(2),并将其与地基测高仪探测结果做了综合对比。结果表明,在太阳活动高年(2013年),相对误差小于等于20%的数据占比93.0%,平均相对误差约为7.08%;在太阳活动低年(2017年),相对误差小于等于20%的数据占比80.8%,平均相对误差约为12.64%。最后,对该算法在太阳活动高低年的反演精度差异进行了分析。 展开更多
关键词 OI 135.6 nm 反演方法 f_(0)F_(2) 电离层 测高仪
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