双层堆叠纳米环磁特性的研究

基于蒙特卡洛(MC)方法与快速傅里叶变换微磁学(FFTM)方法,研究了厚度不同钴纳米环的磁化特性。模拟结果表明,纳米环堆叠时,系统的磁化过程存在“双稳态”特征,在磁化翻转过程中出现局部涡旋态,随着厚度的变化,系统的自旋组态出现了更为丰富的过渡态,整体的磁化过程更加复杂。

钴纳米环层叠阵列的厚度对磁特性的影响

基于蒙特卡罗(MC)方法与快速傅里叶变换微磁学(FFTM)方法,模拟不同厚度层叠阵列钴纳米环的磁化动力学特征。研究发现:厚度不同的钴纳米环的磁滞回线均出现“双稳态”特征,且系统的“涡旋态”的形成及稳定性与厚度明显相关。进一步研究表明:纳米环层叠阵列的厚度对系统达到饱和所需要的外磁场有较大的影响,磁滞回线的台阶宽度ΔH_(fc)也与厚度相关,模拟结果与实验事实接近。