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半导体制造工艺中的静电问题
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作者 藤江明雄 《LSI制造与测试》 1996年第3期10-14,共5页
随着半导体器件的微细化设计的进展,我们必须极深刻的地重新认识静电问题,因此。本文在过去半导体制造工艺中的静电问题基础上,结合国内外的文献资料,主要介绍静电问题的所在及其概况。
关键词 半导体制造 工艺 静电 测量 设计
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